TITANIUM
АСМ Раман
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
Модельный ряд
ИНТЕГРА Спектра ИНТЕГРА Спектра – автоматизированый АСМ-Раман-СБОМ измерительный комплекс широкого применения SPECTRUM SPECTRUM – автоматизированый АСМ-Раман-СБОМ измерительный комплекс широкого применения ИНТЕГРА Спектра II ИНТЕГРА Спектра II – автоматизированый АСМ-Раман-СБОМ измерительный комплекс широкого применения
 

ИНТЕГРА Спектра II



Многофункциональная автоматизированная
система для АСМ-Раман, СБОМ и TERS
исследований


ИНТЕГРА Спектра II     (714 Kb)

 
 
Применения Принцип работы Спецификация Материалы для скачивания Контакты
 
  • Автоматизированный АСМ высокого разрешения
  • Конструктивные решения, оптимизированные для TERS-экспериментов: оптический доступ сверху, снизу и сбоку
  • Модульная оптическая система позволяет реализовать любую конфигурацию возбуждения и сбора оптического отклика
  • Автоматизированная настройка системы лазер-зонд-фотодиод
  • Простая смена длины волны источника излучения оптической системы АСМ
  • Легкая и точная настройка объективов

Начиная с 1998 г. мы успешно интегрируем АСМ с методами оптической микроскопии и пектроскопии. Поддерживаются более 30 базовых и продвинутых АСМ методик, включая HybriD ModeTM, предоставляя обширную информацию о физических свойствах образца. Интеграция АСМ с конфокальной рамановской/флуоресцентной микроскопией обеспечивает широчайший набор дополнительной информации об образце.

  Одновременное получение АСМ и рамановских изображений точно той же области образца предоставляет комплементарную информацию о физических свойствах (АСМ) и химическом составе (Раман) образца.

Благодаря зондово усиленному рамановскому рассеянию (Tip Enhanced Raman Scattering, TERS) ИНТЕГРА Спектра II позволяет проводить спектроскопию/микроскопию с нанометровым пространственным разрешением. Специально изготовленные АСМ зонды (наноантенны) могут быть использованы в TERS для локализации и усиления излучения в нанометровой области около острия зонда. Такие наноантенны действуют как “наноисточники” излучения, давая возможность получения оптического изображения с разрешением на порядки лучше дифракционного предела (до ~ 10 нм).

Другим подходом к получению оптических и спектроскопических изображений является сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) с использованием апертурных зондов, обеспечивающая пространственное разрешение (~ 100 нм).
 

ИНТЕГРА Спектра II 3D обзор
 

Решение для всех возможных схем возбуждения/регистрация и зондово-усиленного КР (TERS)

Апертурная сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия

Применения

CdS нанопроволока

CdS нанопроволока была соединена с металлическим электродом проволокой из проводящего полимера. Зонд АСМ позиционировался на структуре с помощью оптического микроскопа. Благодаря форме АСМ зонда луч лазера может быть сфокусирован непосредственно на острие зонда.

АСМ изображение высокого разрешения представляет информацию о рельефе образца. Рамановское и люминесцентное изображения того же участка показывают разницу в химическом составе нанопроволок.
 

Оптическое изображение образца
и подведенного АСМ зонда
     


Рельеф


Рамановское изображение
(проволоки из проводящего полимера)


Фотолюминесценция (CdS)


Рамановский и ФЛ спектры
CdS нанопроволоки

Образец представлен: prof. R. Carpick, Penn State University. Размер скана 20x20 мкм

 

Чешуйки графена на Si/SiO2


Рельеф


Интенсивность G полосы


Интенсивность 2D полосы


Рамановские спектры

Принцип работы


 

  • Новая оптическая схема состоит из трех независимых каналов возбуждения образца: сверху, сбоку и снизу. Каждый канал реализован в виде независимого модуля.
  • Смена направления возбуждения образца производится легким переключением. Сбор излучения может осуществляться как с помощью оптического канала возбуждения, так и любого другого оптического канала.
  • Открытый дизайн обеспечивает прекрасные возможности модификации системы. Каждый конкретный канал позволяет наблюдать образец с помощью объектива с увеличением до 200x, возбуждать образец лазерным лучом и сканировать сфокусированным лазерным пятном по поверхности образца.
  • Диапазон длины волны возбуждения - от 325 нм до 1064 нм*.
 
  • Система регистрации АСМ не зависит от рамановского объектива, что позволяет легко и быстро менять объективы, сохраняя положение точки фокусировки.
  • Автоматизированная юстировка оптической системы АСМ сводит к минимуму действия пользователя по её настройке.
  • Удобное для пользователя изменение длины волны оптической системы АСМ позволяет исключить взаимное влияние лазера оптической системы АСМ и рассеянного образцом излучения.
  • Оптический перископ дает возможность объединять систему АСМ-Раман практически со всеми рамановскими спектрометрами, доступными на рынке.
  • Спектрометр может быть снабжен различными детекторами – ФЭУ, ЛФД, ПЗС. Рэлеевское и рамановское изображения могут быть получены одновременно.
* Совместимость с другой длиной волны по запросу
   

 

Спецификация

Конфокальная микроскопия

Конфокальная рамановская/флуоресцентная/рэлеевская визуализация проводится одновременно с АСМ измерениями

Дифракционно ограниченное пространственное разрешение: <200 нм по XY, <500  нм& по Z (с иммерсионным объективом)


Истинная конфокальность: моторизованный конфокальный пинхол для оптимального сигнала и конфокальности
Непрерывно перестраиваемый ND фильтр (диапазон 1-0.001) для прецизионного изменения мощности лазерного излучения
Моторизованный расширитель пучка/колиматор: настройка диаметра и коллимирование лазерного луча для каждого лазера и каждого объектива
Полностью автоматизированное переключение между различными лазерами - за несколько кликов мыши
Полная 3D (XYZ) конфокальная визуализация с мощным инcтрументарием анализа изображений

АСМ/СТМ: интеграция со спектроскопией

Низкошумящий АСМ: шум по Z <0,1 нм (СКО в полосе 10‑1000 Гц)
Быстрая смена длины волны системы регистрации АСМ (670, 830, 1064 и 1300 нм), отстутствие паразитного влияния лазера АСМ на рамановскую спектроскопию
Автоматизированная настройка оптической системы АСМ (лазер-зонд-фотодиод)
Независимая от объектива система АСМ регистрации
XYZ сканирование образцом с обратной связью
(диапазон 100x100x10 мкм)
Отслеживание фокуса: образец всегда в фокусе благодаря Z обратной связи АСМ, что позволяет получать высококачественные конфокальные изображения шероховатых и наклонных образцов
Сменные держатели зондов (АСМ, СТМ и др.). Поддерживаются все стандартные АСМ методики (включая КЗСМ, ОСР, ПСМ, СЕМ) в комбинации с конфокальной рамановской микроскопией
Нерезонансная методика HybriD™ для количественного и высокоразрешающего картирования локальных свойств за счет прямых и быстрых силовых измерений 
  Спектроскопия

Высокая оптическая эффективность 520 мм спектрометра с четырьмя моторизованными решетками


Доступны видимый, УФ и ИК диапазоны

Решетка Эшелле со сверхвысокой дисперсией для видимого, УФ и ИК диапазонов; спектральное
разрешение: 0.007 нм (< 0.1 см-1)


Возможна установка до 3 различных детекторов:

  • ТЭ охлаждаемые (до -100 °C) CCD/EMCCD камеры
  • ЛФД в режиме счета фотонов или FLIM детектор
  • ФЭУдля быстрой конфокальной лазерной микроскопии

Гибкая моторизованная поляризационная оптика в каналах возбуждения и детектирования, поляризационные рамановские измерения
ТГц рамановская спектроскопия: <10 см-1 с Брэгговским объемным фильтром
Гиперспектральная визуализация (запись полного рамановского спектра в каждой точке 1D, 2D и 3D конфокального скана) с дальнейшим программным анализом

Система ввода-вывода излучения

Оптический доступ излучения к образцу сверху, снизу и под углом 30 градусов к плоскости образца


Использование высокоапертурных объективов одновременно с АСМ: до 1.45 NA для инвертированной, до 0.7 NA для прямой, до 0.7 NA для конфигурации с боковой засветой

Легкосменные объективы на кинематических держателях: точность <2 мкм


Двойное сканирование: сканирование образцом и сканирование лазерным пятном (для нахождения точки усиления TERS)
Сканирующие с обратной связью зеркала для точного позиционирования лазерного пятна на зонде (важно для СБОМ, TERS). Конфигурации с прямой, инвертированной и боковой засветкой: 50×50 мкм со 100× объективом
Детектируются все СБОМ сигналы: интенсивности лазерного излучения и флуоресценции, спектроскопия. Поддерживаются все СБОМ оптические схемы: на пропускание и отражение, сбора и рассеяния излучения (р-СБОМ)
Доступны все TERS геометрии:засветка/сбор сверху, снизу, сбоку

 

Материалы для скачивания

Информационная брошюра

 

Примеры применений

Контакты

Для получения дополнительной информации заполните  специальную форму.

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI