СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
Модельный ряд
NEXT Fully automated AFM/STM system NEXT. NT-MDT – AFM-probes, atomic force microscope (AFM, HybriD Mode,  STM, SPM, RAMAN, SNOM) TITANIUM LIFE Атомно-силовой микроскоп для биомедицинских исследований Лайф (LIFE). НТ-МДТ – АСМ-зонды, Сканирующие зондовые микроскопы (АСМ, СТМ, СЗМ, СБОМ, Раман) OPEN Опен (OPEN) – универсальный автоматизированный СЗМ.  НТ-МДТ – АСМ-зонды, Сканирующие зондовые микроскопы (АСМ, СТМ, СЗМ, СБОМ, Раман)
 

СЗМ Open



Универсальный автоматизированный АСМ

 
 

Основная информация

СЗМ OPEN – это полностью автоматизированный измерительный комплекс. При работе с контроллером PX Ultra он предоставляет самый широкий набор измерительных АСМ методов.
 

Низкий уровень шума
Высокое качество СЗМ OPEN обусловлено низким уровнем шумов. Прежде всего это обеспечивается жесткостью механической петли образец-зонд и низким уровнем шума системы регистрации изгибов кантилевера, достигающим 15 пм в полосе 1 кГц. Кроме того, получение АСМ изображений с высоким разрешением обеспечивается использованием в СЗМ низкошумящих емкостных датчиков обратной связи и высоковольтных усилителей контроллера PX Ultra.
 
Температурные измерения и контроль внешней среды
АСМ OPEN комплектуется набором различных столиков и ячеек, обеспечивающих проведение измерений с нагревом и охлаждением образца, работу СЗМ в жидкости или в контролируемой атмосфере.
 
Малый дрейф и высокая стабильность
Уровень дрейфа в АСМ OPEN составляет ~30 нм/час. Использование акустически изолированной термостабилизированной камеры позволяет снизить уровень дрейфа до ~10 нм/час. Это дает возможность получать стабильные результаты при проведении долговременных, требующих высокого разрешения экспериментов.
 
Алгоритм безопасного подвода
Получение изображений высокого качества определяется степенью остроты кончика зонда, который может повредиться в процессе подвода к образцу даже до начала этапа сканирования. Компания «НТ-МДТ» реализовала в измерительном комплексе OPEN специальный фазочувствительный алгоритм, гарантирующий сохранность кончика зонда в ходе подвода к образцу.


 

Дополнительная информация

Примеры применений

  • Piezoresponse Force Microscopy in Its Applications AN 083  (1,86 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Exploring Materials with AFM-based Electrostatic Modes AN 084  (2,12 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Exploring Nanomechanical Properties of Materials with Atomic Force Microscopy AN 085  (1,58 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Next Scanning Probe Microscope: Visualization of Surface Nanostructures and Morphology AN 086  (1,87 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Expanding AFM with HybriD Mode Imaging AN 087  (2,71 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • High-Resolution Imaging in Different Atomic Force Microscopy Modes. Summary AN 088s  (1,13 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • High-Resolution Imaging in Different Atomic Force Microscopy Modes AN 088  (1,73 Mb)
    Size: A4 or Letter
 

Применения

Благодаря широкому разнообразию методов и методик зондовых измерений СЗМ OPEN применяется для решения многих научных задач, а также в нанотехнологиях. Способность измерительного комплекса OPEN осуществлять сканирование с атомным разрешением соответствует высоким требованиям при проведении физико-химических исследований твердотельных материалов, низкоразмерных наноструктур и наноматериалов.
 
Изображение скана ВОПГ, полученного на АСМ OPEN    
ВОПГ, АМ-АСМ.
Размер скана 1.5×1.5 мкм
 
Алканы C60H122, АМ-АСМ.
Размер скана 400×400 нм
 
ДНК на слюде, АМ-АСМ.
Размер скана 1×1 мкм
   
Celgard, АМ-АСМ.
Размер скана 1×1 мкм
 
Атомы кальцита, АМ-АСМ в воде. 
Размер скана 11×11 нм
 
Флуороалканы F14H20, АМ-АСМ.
Размер скана 500×500 нм
 

Спецификация


Измерительные методы

Контактная АСМ, амплитудно-модуляционная АСМ, АСМ-спектроскопия, АСМ-литография (силовая, токовая, вольтовая), растровая прыжковая сканирующая микроскопия (РПСМ), ЛСМ, СММ, отображение сопротивления растекания, ПСМ и переключательная спектроскопия, ЭСМ, Кельвин-зондовая силовая микроскопия (КЗСМ), МСМ, СТМ.
 

Конфигурация "сканирование образцом"
 
Размер образца: до 30 мм в диаметре, до 24 мм в высоту
 
Диапазоны сканирования:
  • 100 × 100 × 10 мкм (ОС)
  • 3 × 3 × 2.5 мкм
  • 1 × 1 × 2.5 мкм
     
Автоматизированного позиционирование образца:
  • Диапазон XY: 15 × 15 мм
  • Минимальный шаг: 0.3 мкм
  • Оптические энкодеры: доступны по запросу
     
Контроль температуры образца и окружающей среды:
  • КТ .. 150 °C на воздухе
  • КТ .. 65 °C в жидкости
     
Система видеонаблюдения:
  • Разрешение: 1 мкм
  • Поле зрения: от 0,12×0,16 до 0,76×1,03 мм
  • Увеличение: от 4х до 30х
 
Конфигурация "сканирование зондом"
 
Размер образца: до 50 мм в диаметре (допускается исследование 100 мм пластин при ограничении диапазона XY позиционирования), до 24 мм в высоту
 
Диапазон сканирования: 100 × 100 × 10 мкм (ОС)
 
Автоматизированного позиционирование образца:
  • Диапазон XY: 35 × 35 мкм
  • Минимальный шаг: 0.3 мкм
     
Контроль температуры образца и окружающей среды:
  • -20 .. 150 °C на воздухе
  • КТ-15 .. 65 °C в жидкости
  • Электрохимическая ячейка
     
Система видеонаблюдения: 
  • Разрешение: 2 мкм
  • Поле зрения: от 0,23×0,3 до 1,44×1,94 мм
  • Увеличение: от 1,4х до 9,08х
 

Контакты

Для получения дополнительной информации о СЗМ производства «НТ-МДТ» заполните специальную форму.

 
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI