СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

О компании

Награды

http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2014 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2012 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2011 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2010 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2009 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2008 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2007 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2006 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2005 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2004 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2003 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2002 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2001 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/2000 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/1999 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/1998 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/1997 http://www.ntmdt-si.ru/awards/year/1996
 
Медаль за второе место в номинации "Лучший инновационный проект наноиндустрии в промышленности" за проект "Разработка и производство нанотехнологического оборудования" в рамках 1-й Международной выставки "Нанотехнологии. Казань 2009"
Постерный доклад компании НТ-МДТ признан лучшим на международной конференции в Китае.
Диплом "За обустройство земли российской" в рамках одноименной ежегодной национальной премии
Благодарственное письмо за помощь в организации и проведении Международного Форума "Нано в научно-образовательной сфере"
Благодарственное письмо генеральному директору компании НТ-МДТ Быкову В.А. от фонда ветеранов и инвалидов вооруженных конфликтов
Медаль за инновационные достижения в области нанометрологии в рамках Пятой специализированной выставки средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования "Метрология 2009"
Генеральный директор компании НТ-МДТ Быков В.А. награждён памятной медалью десятого юбилейного форума "Высокие технологии XXI века"
Автоматизированный зондовый микроскоп СОЛВЕР НЕКСТ производства НТ-МДТ вошел в список 100 лучших мировых разработок 2009 года по версии американского журнала Research&Development.
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI