СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Новости

Новые АСМ зонды серии ETALON с CoFe покрытием для МСМ сверхвысокого разрешения

20.02.2016

НТ-МДТ рада представить в своем ассортименте новые ETALON АСМ зонды с CoFe покрытием для получения изображений высокого разрешения по методу магнитно-силовой микроскопии (http://www.ntmdt-tips.com/products/group/magnetic). Эти зонды объединяют в себе все преимущества серии ETALON и имеют специальный магнитный слой на острие. В числе их плюсов можно отметить:.

  • Резонансная частота и силовая постоянная определяются при изготовлении с высокой точностью (10% и 20% соответственно);
  • Наличие двух кантилеверов на одном чипе;
  • Особая геометрия кантилевера для удобной эксплуатации;
  • Низкий угол раствора конуса зонда;
  • Специальное покрытие для усиления отраженного сигнала лазера системы детектирования;
  • Острый зонд с высокочувствительным магнитным покрытием (радиус кривизны < 30 нм).

Новый тип магнитного покрытия  допускает уменьшение радиуса закругления острия до 30 нм. Вместе с высокой чувствительностью его магнитных доменов это делает ETALON CoFe зонды идеально подходящими для визуализации MFM контраста с высоким разрешением.

Чтобы продемонстрировать превосходные характеристики CoFe зондов, наши исследователи недавно проводили измерения по методу амплитудной модуляции (AC-MFM)  в режиме магнитно-силовой микроскопии современного HDD высокой плотности. Исходя из ожидаемого размера одного домена, было оценено латеральное разрешение магнитных изображений. Оно составило, по меньшей мере, 30 нм. Ниже представлены полученные сканированные изображения и сечения, используемые для оценки разрешения.

Стоит отметить, что такие детальные изображения позволяют распознать сектора различной функциональности на исследуемом жестком диске (что отражено на подписях к картинкам).


AC-MFM образ сектора сервопривода.
Жесткий диск высокой плотности
Размер сканирования: 10 × 10 мкм2 (5 nm шаг)
Размер сечения: 2,5 µm

AC-МСМ изображение сектора данных пользователя. Жесткий диск высокой плотности
Размер сканирования: 8 × 8 мкм2 (с 5 nm шаг)
Размер сечения: 2,5 µm
(сечение начальной зоны записи)

Еще одна особенность наших новых магнитных зондов HA-серии – это повторяемые геометрические параметры кантилевера. В приведенной ниже таблице сравниваются ETALON поликремниевые зонды и другие стандартные зонды, изготовленные из кремния.

Параметры ETALON MFM зонды Кремневые АСМ зонды
 Толщина кантилевера ± 0.15 µm ± 0.5 µm
 Длина кантилевера ± 2 µm ± 10 µm
 Резонансная частота кантилевера ± 10% till ± 100%

Мы считаем, что стабильность и хороший контраст MFM, показанные во время тестовых измерений зондами, покрытыми CoFe, делают их перспективными для дальнейших исследований в различных высокоточных областях.

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI