TITANIUM
АСМ Раман
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Новости

Выпуск новостей # 2, Декабрь 2014

23.12.2014
    Версия для печати

С Новым Годом и Рождеством!

 
По следам конференции MRS Fall 2014 в Бостоне
Конференция MRS Fall традиционно собирает большое количество ученых из США и других стран, большое внимание которых привлекают связанные с конференцией симпозиумы по СЗМ тематике. В этом году посетители конференции вносили отдельную плату для участия в симпозиуме «Advances in Scanning Probe Microscopy for Multimodal Imaging at the Nanoscale», одним из спонсоров которого была НТ-МДТ. На этой встрече с большим количеством участников были представлены и обсуждены последние достижения в методах, обеспечивающих оптическое разрешение ниже дифракционного предела, а также химическую идентификацию. Мы также участвовали в этой встрече с двумя докладами, и эта же тема был предметом нашей живой демонстрации Зондово-усиленного рамановского   рассеяния на различных образцах, которая была проведена на одном из наших двух стендов. На другом стенде НТ-МДТ представила новый Термостатированный шкаф для наших СЗМ, см. фотографию выше. Привлекательный шкаф обеспечивает не только изоляцию микроскопа от акустических шумовых и механических колебаний, но также и гарантирует уникальную температурную стабильность на уровне 0.01оС. Термостатированный шкаф обеспечивает проведение АСМ измерений с низким  температурным дрейфом, что важно для многих применений, включая, но не ограничиваясь, отображением с высокой разрешающей способностью в различных АСМ методах (HybriD, контактном и амплитудно-модуляционном).
 
Из социальных сетей
В профессиональной интернет сети “LinkedIn” несколько групп вовлечены в дискуссии о различных аспектах сканирующей зондовой микроскопии. Одной из недавних тем “SPM (Scanning Probe Microscopy) Society” стал новый подход в записи и анализе силовых кривых в нерезонансном колебательном HybriD методе, введенном несколько лет назад НТ-МДТ. Соответствующий видеоролик об Изодинамической силовой микроскопии (IsoDynamic Force Microscopy) выложен по адресу

https://www.youtube.com/watch?v=_ftYMn-7te0.
  В нем визуализируется упругая деформация чешуйчатой структуры poly(dimethylsiloxane), зарегистрированной одновременно с силовыми кривыми. Фактически, использование в АСМ методах силовых кривых для контроля за силой во время отображения дополнено их онлайн и оффлайн анализом, а также извлечением из них локальных механических и электрических свойств одновременно с определением  профиля поверхности. Новые Указания по применению (Application Note), в которых эти вопросы рассматриваются в деталях, находятся в стадии подготовки.
 
Вести из лабораторий
Термоэлектрические измерения с применением АСМ были продемонстрированы несколькими исследовательскими группами, и этот метод становится ценным дополнением к семейству основанных на АСМ электрических методик. Сущность этого метода - точное измерение разности потенциалов между АСМ-зондом с Pt покрытием и ее изменений при различных температурах. Это явление широко используется в термопарах и описывается коэффициентом Зеебека, который зависит от конкретного химического состава. Наше внимание к термоэлектрическим АСМ измерениям было вдохновлено совместной работой с группой профессора Рэйчел Сегэлмен (UCSB), более ранние работы которой были опубликованы в работе  P. Reddy et al Science 315, 1568 (2007). Прямая демонстрация этого эффекта была достигнута в исследованиях неполностью отожженного металлического сплава Bi и Sn. Эти металлы характеризуются существенно различными коэффициентами Зеебека: Bi – 72мкВ/˚C,
Sn – 1.5мкВ/˚C. На приведенном ниже изображении показана карта напряжения, полученная при повышенной температуре 55˚C.
Заметный контраст различных областей (практически
  неразличимый при комнатной температуре) позволяет приписать их отдельным элементам этого сплава.
Это - один из возможных способов картирования состава гетерогенных материалов. Однопроходная Кельвин-зондовая силовая микроскопия и количественные наномеханические измерения с использованием HybriD метода уже описаны в Примерах применений  НТ-МДТ для образца сплава Bi/Sn. Стоит отметить, что термоэлектрические АСМ-измерения помогли обнаружить локальные дефекты в эпитаксиальном графене: S. Cho et al. Nature Materials 12, 913 (2013)


Изображения рельефа и распределения потенциала в сплаве Bi/Sn при 55˚C.

 
Предстоящие мероприятия

14 января 2015: Вебинар “Характеризация материалов с применением интегрированного АСМ/Раман микроскопа”, основанного на АСМ/Раман данных, полученных с использованием рамановского микроскопа DXR Thermo Fisher Scientific и АСМ модуля ИНТЕГРА Спектры от НТ-МДТ.
Февраль 2015: НТ-МДТ АСМ/Раман семинар в Университете Карнеги-Меллона (Питсбург, Пенсильвания), который включает технические презентации и демонстрационные сессии на нескольких микроскопах НТ-МДТ.

 
Избранные АСМ изображения


Изображение полимерного «ячеистого» шаблона  (слева и в центре) и гексагональной упаковки полистиреновых латексных частиц (справа). Амплитудно-модуляционный метод.

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI