СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Новости

НТ-МДТ Спектрум Инструментс на International Scanning Probe Microscopy conference Kyoto 2017

17.05.2017

НТ-МДТ Спектрум Инструментс продолжает принимать участие в Международной конференции по Сканирующей Зондовой Микроскопии (International Scanning Probe Microscopy conference). В этом году 19-я по счету конференция проходит в Киото, Япония с 15 по 19 Мая.

Данное мероприятие традиционно обеспечивает идеальную возможность для представления новых открытий в области теории, оборудования и применения Сканирующих Зондовых Микроскопов. Во время конференции НТ-МДТ СИ анонсирует новую уникальную методику для комплексного изучения морфологических и электро-механических свойств мягких и деликатных образцов. Новая АСМ методика, названная HybriD Piezoresponce Force Microscopy (HD PFM) предназначена для неразрушающего одновременного исследования поверхностной морфологии, картирования количественных наномеханических и пьезоэлектрических свойств органических пьезоэлектриков и ферроэлектриков.

Представители НТ-МДТ СИ готовы предоставить более подробную информацию о новой методике и других продуктах компании посетителям нашего стенда #5 до 19-го Мая, либо ответить на ваши вопросы в любое другое время посредством info@ntmdt-si.com.

 
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI