TITANIUM
АСМ Раман
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Ресурсы

Специализированные применения

HybriD Mode™   PX Ultra контроллер
Одно измерение – множество свойств.
HybriD Mode™ (HD-AFM™) является инновационным методом атомно-силовой микроскопии, открывающим  новые степени свободы в характеризации нанообъектов.
PX Ultra контроллер с 5 синхронными детекторами и повышенными возможностями организации обратных связей выведет ваш прибор на  качественно новый уровень измерений с применением большего числа методик, в т.ч. многочастотных методов ЭСМ и КЗСМ   (однопроходных и градиентных).

Измерение изменения массы   Термостатирующий шкаф
Сочетание в одном приборе пьезокварцевых микровесов и атомно-силового микроскопа позволяют проводить одновременные исследования локальных свойств поверхности (с нанометровым разрешением) и изменение массы образца (с разрешением до субнанограммов). NT-MDT SI предлагает новый Термостатирующий шкаф, обеспечивающий низкодрейфовую температурную среду для сканирующих зондовых микроскопов: NEXT, NTEGRA Prima, и Titanium.

Измерения в жидкости   Измерения в вакууме и газовой среде
Для измерений в жидкости разработана измерительная головка, использование которой позволяет проводить измерения в жидкости в самых различных условиях: начиная от измерений в капле, и заканчивая специализированными ячейками с возможностью подогрева. 
Широкий спектр жидкостных ячеек позволяет проводить измерения в жидкостях и газовых средах, с протоком, с нагревом/охлаждением образца.
  Вакуум позволяет повысить добротность колебаний кантилевера, а это, в свою очередь, существенно увеличивает чувствительность измерений слабых магнитных взаимодействий между зондом и образцом.
Достоинством систем с низким вакуумом является их простота в использовании, а также короткое время выхода в рабочий режим.
Системы с высоким и сверхвысоким вакуумом позволяют обеспечить необходимую чистоту процесса.

Электрохимические измерения   Измерения в
магнитном поле
Электрохимические измерения позволяют получать СЗМ изображения поверхности с атомарным разрешением, проводить осаждение и растворение материалов на поверхности образца с контролем чистоты системы зонд-электролит.
Новая электрохимическая ячейка является универсальной и позволяет проводить как АСМ так и СТМ электрохимические измерения с нагревом/охлаждением образца в диапазоне температур от -10 до + 60 °C.
  Измерения в магнитном поле позволяют наблюдать процессы перемагничивания и другие эффекты, зависящие от магнитного поля.
Приборы производства НТ-МДТ позволяют проводить измерения в магнитном поле, направленном как вдоль, так и по нормали к поверхности образца. Напряженность магнитного поля контролируется встроенным датчиком Холла.

Наносклерометрия и наноиндентирование   АСАМ
При измерениях твердости сверхтвердых материалов и исследовании свойств тонких пленок применяются нанотвердомеры с алмазным индентором Берковича.
Сканирующие наносклерометры, выпускаемые НТ-МДТ, позволяют проводить микро-, наноиндентирование и склерометрию с последующим сканированием, измерение модуля упругости, построение карт распределения механических свойств материалов на поверхности одновременно с получением изображения рельефа поверхности.
  Модуль Атомно–Силовой Акустической Микроскопии (модуль АСАМ) является уникальным инструментом для изучения упругих свойств различных, в т.ч. относительно мягких материалов, трудно поддающихся измерениям альтернативными методами.
Полученные АСАМ изображения отображают картину распределения поверхностной жесткости образца.

Сканирующая тепловая микроскопия (СТеМ)   Температурные измерения
Сканирующая тепловая микроскопия (СТеМ) предназначена для одновременного получения изображений рельефа поверхности и распределения тепловых свойств наноразмерных объектов.    Измерения, проводимые с нагревом и охлаждением образца, позволяют изучать изменение свойств образцов при изменении температуры.
Компания НТ-МДТ производит целый шлейф самых разнообразных приборов: от держателей образца с нагревом до 300°С и до термооснований, позволяющих практически избавиться от дрейфов при нагреве или охлаждении образца.

 

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI