СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Специализированные применения

Сканирующая тепловая микроскопия (СТеМ)

Сканирующая тепловая микроскопия (СТеМ) предназначена для одновременного получения изображений рельефа поверхности и распределения тепловых свойств наноразмерных объектов. Разработанный компанией НТ-МДТ модуль СТеМ позволяет визуализировать распределение температуры и теплопроводности по поверхности образца.

Модуль СТеМ включает в себя СТеМ вкладыш, блок измерения температуры, сборку СТеМ датчика и программный модуль СТеМ.

Устройство СТеМ зонда РЭМ изображение СТеМ зонда

Зонды
Для получения СТеМ изображений необходимо использование зондов с терморезистором на кантилевере. СТеМ зонды компании НТ-МДТ обеспечивают латеральное разрешение отображения рельефа и теплопроводности на уровне 100 нм.
СТеМ зонды изготавливаются на основе оксида кремния (SiO2), при этом терморезистивный слой наносится на зонд таким образом,  что в процессе сканирования с поверхностью образца контактирует часть слоя, находящаяся на острие. Изменения температуры острия зонда влияют на изменение величины термосопротивления, отслеживая котороые система регистрирует локальные температуру или теплопроводность образца.

Контроллер и программное обеспечение
Подключение блока измерения температуры к контроллеру осуществляется через стандартный разъем EXTENTION. 
Управление функцией СТеМ осуществляется с помощью  программного модуля, интегрированного в основное программное обеспечение в качестве отдельного метода контактного режима сканирования.

Тепловая микроскопия позволяет получать изображения с латеральным разрешением лучше 100 нм.
Образец: оптоволокно в эпоксидной смоле.
Cлева – рельеф поверхности, справа – распределение теплопроводности.

Размер изображения: 6 x 6 мкм.

 

 

Блок измерения температуры Комплект СТеМ зондов
 
   
СТеМ вкладыш Универсальная измерительная головка 
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI