СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Ресурсы

Публикации

http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2016 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2015 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2014 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2013 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2012 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2011 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2010 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2009 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2008 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2007 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2006 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2005 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2004 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2003 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2002 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2001 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/2000 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1999 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1998 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1997 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1996 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1995 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1994 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1993 http://www.ntmdt-si.ru/publications/year/1991
 
Категория:   Ключевые слова:  
04.12.1998 Скачать (1,17 Мб) [English]

A.L. Stepanov, D.E. Hole, A.A. Bukharaev, P.D. Townsend and N.I. Nurgazizov, Reduction of the size of the implanted silver nanoparticles in float glass during excimer laser annealing, Applied Surface Science (136) 4 (1998) pp. 298-305

05.09.1998 Скачать (781,02 Кб) [English]

V. Shevyakov, S. Lemeshko, V. Roschin. Conductive SPM probes of base Ti or W refractory compounds. Nanotechnology, 9 (1998) 352-355.

01.09.1998 Скачать (2,04 Мб) [English]

R. V. Lapshin.
Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners.
Review of Scientific Instruments, vol. 69, no. 9, pp. 3268-3276, 1998

05.05.1998 Скачать (303,35 Кб) [English]

V. Bykov, A. Gologanov, V. Shevyakov. Test structure for SPM tip shape deconvolution. Applied Physics A Materials Science & Processing, Abstract Volume 66 Issue 5 (1998) pp 499-502

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI