СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Примеры применений (Архив)

Научные основания

Отображение локальной жесткости.

    Ссылки

1. U. Rabe, K. Janser, and W. Arnold, Review of Scientific Instruments, September 1996, Volume 67, Issue 9, pp. 3281-3293 “Vibrations of free and surface-coupled atomic force microscope cantilevers: Theory and experiment”. (pdf-file).
2. H. Chen, R. M. Feenstra, R. S. Goldman, C. Silfvenius, G. Landgren, Applied Physics Letters, 1998, Volume 72, Number 14, pp. 1727-1729, “Strain variations in InGaAsP/InGaP superlattices studied by scanning probe microscopy”.(pdf-file).
3. V. Yu. Davydov, A. A. Klochikhin, I. E. Kozin, I. N. Goncharuk, A. N. Smirnov, R. N. Kyutt, M. P. Scheglov, A. V. Sakharov, V. V. Tretyakov, A. V. Ankudinov, M. S. Dunaevskii, W. V. Lundin, E. E. Zavarin and A. S. Usikov, 9th Int.Symp. “Nanostructures: Physcis and Technology”, June 2001, Ioffe Institute St.Petersburg, pp. 152-156, “Raman studies of acoustical phonons in strained hexagonal GaN/AlGaN superlattices”. (pdf-file).
 

Дополнительная информация о лазерных структурах была получена с использованием Контактной ЭСМ, Метода Кельвина.

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI