СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Примеры применений (Архив)

Практические детали

Отображение локальной жесткости.

См. практические детали получения рельефа ZnSSe/GaAs лазерной структуры.
 

Мы возбуждали колебания кантилевера и измеряли амплитудно-частотную характеристик для нахождения резонансного писка. В контактном режиме колебаний кантилевера (мы использовали зондовый датчик CSC12 с мягким кантилевером и резонансной частотой свободных колебаний 10-30 кГц) зафиксированы оба конца кантилевера, и резонансная чатота обычно наблюдается в области нескольких сотен кГц. Сигнал амплитуды колебаний пропорционаленжесткости системы зонд-поверхность. Изучаемый образец имел весьма неоднородный рельеф с вариациями высоты в несколько сотен нм. Поэтому в нашем случае сигнал существенно зависел от эффективной кривизны контакта зонд-образец и был использован для повышения разрешения малоразмерных поверхностных образоаний.

Специфические параметры сканированного изображения можно найти в f7.opt и f7.mdt.

AСM изображения получены на приборе SPM P4 с CSC12  зондовыми датчиками.
  
Дополнительная информация о лазерных структурах была получена с использованием  Контактной ЭСМ, Метода Кельвина.

 

 

 

 

 

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI