СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Принципы работы СЗМ

Отображение Работы Выхода

 

  Download Flash (0,3 Mb)
  Download mp4 (1 Mb)
Спектроскопические измерения Локальной Высоты Барьера (ЛВБ спектроскопия) позволяет получать информацию о пространственном распределении микроскопической работы выхода поверхности, как описывается ниже.
Туннельный ток IT в  СТМ экспоненциально затухает с расстоянием зонд-образец z как

IT ~ exp(-2kz),

где константа затухания k определяется выражением

2k = 2(2mU/h2)1/2.

При отображении ЛВБ мы измеряем чувствительность туннельного тока к вариациям расстояния зонд-образец в каждом пикселе СТМ изображения. Получаемая по этому методу ЛВБ является так называемой видимой высотой барьера U, определяемой выражением

U= 0,95(1/IT )2 (dIT /dz)2

Эта величина U обычно сравнивается со средней работой выхода Uav = (Us + U)/2, где Ut и Us являются работами выхода материала зонда и образца соответственно. Во многих случаях экспериментальная величина U не равна в точности Uav, но является меньшей величиной. Тем не менее, известно, что величина U близка к локальному поверхностному потенциалу (локальной работе выхода) и является хорошей мерой его. 

Отображение ЛВБ получается путем поточечного измерения логарифмических изменений туннельного тока при изменении расстояния зонд-образец,  т.е. наклона кривой зависимости   log I от z. При проведении измерений ЛВБ расстояние зонд-образец варьируется синусоидально, например, путем приложения дополнительного переменного напряжения к сигналу обратной связи, подаваемому на z-секцию пьезосканера. Частота модуляции выбирается много большей полосы пропускания системы обратной связи СТМ.

Ссылки

  1. G. Binnig and H. Rohrer: Surf. Sci. 126 (1983) 236. Rep. Prog. Phys. 55, 1165-1240 (1992).
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI