СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Принципы работы СЗМ

I(V) Спектроскопия

 

  Download Flash (0,5 Mb)
  Download mp4 (0,8 Mb)
Проведение I(V) Спектроскопии (Current Imaging Tunneling Spectroscopy, CITS) предполагает одновременное получение обычного изображения рельефа при фиксированных значениях тока Io и напряжения смещения Vo. В каждой точке изображения обратная связь разрывается, и напряжение смещения проходит ряд значений Vпри этом записываются соответствующие значения тока Ii. Затем напряжение возвращается к Vи обратная связь включается снова. Каждая I-V кривая может быть получена за несколько миллисекунд, так что дрейф положения зонда не оказывает существенного влияния. Эта процедура генерирует полное токовое изображение Ii(x,y) для каждого значения напряжения Vi в дополнение к изображению рельефа
z(x,y)|VoIo.

CITS значения могут быть использованы для расчета токового разностного изображения DIVi,Vj(x,y) где Vi и Vj ограничивают частные поверхностные состояния, производя реальное пространственное отображение поверхностных состояний с атомарным разрешением. Эта методика может быть использована, например, в сверхвысоком вакууме для отображения заполненных состояний адатомов или ненасыщенных связей для реконструкций кремния.

Ссылки
  1. G. Binnig and H. Rohrer: Surf. Sci. 126 (1983) 236. Rep. Prog. Phys. 55, 1165-1240 (1992).
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI