СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Принципы работы СЗМ

Люминесцентный Метод

 

   Download Flash (34 Kb)
   Download mp4 (2,1 Mb)
Ключевым элементом Сканирующего Ближнепольного Оптического Микроскопа (СБОМ) является миниатюрная диафрагма (кончик оптического волокна с выходящим из него лазерным излучением) сканирующая образец, находясь от него очень близко – на расстоянии менее, чем 10 нм.

В настоящее время наиболее используемый метод поддержания расстояния зонд-образец основан на измерении поперечно-силового взаимодействия ближнепольного зонда и образца [1]. Использование основанной на поперечно-силовом взаимодействии системы позволяет проводить измерение рельефа поверхности образца, или наряду с поперечно-силовой микроскопией проводить ближнепольные измерении с использованием Метода пропускания для прозрачных образцов, Метода отражения для непрозрачных образцов и Люминесцентного метода для дополнительной характеризации образцов.

В основе неоптического метода получения информации о рельефе поверхности лежит идея использования отклика прикрепленного к оптическому волокну кварцевого резонатора при взаимодействии с поверхностью. В системе кварцевый резонатор-волокно с помощью внешнего устройства возбуждаются поперечные колебания на резонансной частоте кварцевого резонатора. Далее используется пьезоэффект: механические колебания кварцевого резонатора приводят к электрическому отклику, который используется в качестве информационного сигнала для определения амплитуды колебаний волокна.

СБОМ Люминесцентный Метод реализуется одновременно с Поперечно-силовой микроскопией и осуществляется следующим путем. Пьезовибратор через кварцевый резонатор возбуждает колебания волоконного зонда с некоторой начальной амплитудой, при этом величина выходного сигнала резонатора составляет Ao. При приближении к поверхности образца амплитуда колебаний волоконного зонда уменьшается и достигает некоторой предустановленной (set-point) величины A. После этого производится сканирование поверхности образца с поддержанием системой обратной связи этой величины амплитуды колебаний. В процессе сканирования образец облучается волоконным зондом и проходящее сквозь образец излучение и узкополосный режекторный фильтр с помощью объектива направляется на фотоумножитель.

Ссылки
  1. Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI