СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ
 
 

Принципы работы СЗМ

СТМ методики

 

Heinrich Rohrer and Gerd K. Binnig, scientists at Генрих Рорер и Герд Бинниг, ученые из исследовательской лаборатории IBM в   Цюрихе, Швейцария были награждены в 1986 г. Нобелевской премией по физике за их работу по сканирующей туннельной микроскопии. Бинниг и Рорер были отмечены за разработку мощных методов исследований на основе Сканирующей Туннельной Микроскопии. Они разделили премию с немецким ученым Эрнстом Руска, конструктором первого Электронного Микроскопа.
СТМ способен формировать изображения отдельных атомов на поверхностях металлов, полупроводников и других проводящих образцов путем сканирования образца остроконечной иглой на высоте порядка нескольких атомных диаметров, так что между острием и образцом протекает туннельный ток.
Основными методами СТМ являются методы Постоянного Тока и Постоянной Высоты для получения данных о рельефе, дополняемые Методиками Спектроскопических измерений для получения распределений «работы выхода» («высоты барьера») и «локальной плотности состояний» (ЛПС), I(z) и I(V) кривые отображают химические и электронные свойства поверхности.

 Ссылки

  1. US Pat. 4343993. IBM. J. Res. Dev. v.30, N4, 355 (1986).

 
Необходимо отметить, однако, что еще в 1966  г. Рассел Янг высказал предположение о возможности получения рельефа поверхности путем использования тока между поверхностью и металлической остроконечной иглой. В 1971 г. Он опубликовал статью об устройстве, названном Topographiner , которое содержало все основные узлы Сканирующего Туннельного Микроскопа.  



Ссылки

  1. Phys. Rev. Lett. V. 27, N 14, 1971, P. 922-924.
  2. Rev. Sc. Instr. V. 43, N 7,1972, P. 999-1011.
 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI