Вручение Премии Правительства Москвы молодым ученым ООО «НТ-МДТ»

20.02.2019

8 февраля в Государственном Кремлевском Дворце состоялось приуроченное к Дню российской науки торжественное вручение Премий Правительства Москвы молодым ученым за 2018 год. Лауреаты получили награды из рук мэра Москвы Сергея Собянина, президента РАН Александра Сергеева, ректора МГУ имени М.В. Ломоносова Виктора Садовничего.

В 2018 году было подано 745 заявок, и 77 человек стали лауреатами премии. Среди них в номинации «Приборостроение» лауреатами премии стали ведущие разработчики ООО «НТ-МДТ» к.т.н. Поляков Вячеслав Викторович, Тимофеев Сергей Владимирович, к.ф.-м.н. Шелаев Артём Викторович.

Премия была вручена за разработку сканирующего ближнепольного оптического микроскопа (SNOM) с нанометровым пространственным разрешением для видимого и ИК диапазонов. Необходимость разработки новой системы для ближнепольной микроскопии и спектроскопии обусловлена растущими интересами промышленности и научного сообщества к комбинированным измерительным оптическим системам, достигающим лучшего пространственного разрешения за дифракционным пределом во все более широких спектральных диапазонах.

Предложено превосходящее узкоспециализированные аналоги универсальное решение — ИНТЕГРА Нано ИК, объединяющее в себе методики атомно-силовой микроскопии (AFM) и ближнепольной оптической микроскопии (SNOM) в видимом и ИК спектральных диапазонах с использованием различных методик детектирования полезного сигнала. По материалам разработки получены три патента РФ, еще одна заявка на получение патента находится на рассмотрении.

Разработанная система ИНТЕГРА Нано ИК предназначена для определения с нанометровым разрешением состава и различных физико-химических свойств гетерогенных образцов: полупроводниковых наноструктур, полимеров, композитных материалов, углеродных материалов (нанотрубки, графен, наноалмазы), белков, для визуализации локализованного излучения (света) в плазмонных структурах, фотонных кристаллах, метаматериалах.

Ключевыми особенностями системы являются:

  • возможность реализации любой (сверху, снизу, сбоку) геометрии возбуждения и регистрации оптического отклика для исследования прозрачных и непрозрачных образцов на базе единой платформы;
  • рекордное количество методик атомно-силовой микроскопии, включая нерезонансные осцилляционные методики;
  • возможность реализовать оптические методики, связанные с локальным усилением сигнала в присутствии иглы AFM в видимом и ближнем ИК диапазоне: усиленное зондом гигантское комбинационное рассеяние (TERS), усиленная зондом флуоресцентная спектроскопия (TEFS) и др., обеспечивающие достижение нанометрового пространственного разрешения;
  • возможность работы с апертурными зондовыми датчиками в конфигурациях на просвет, сбор и отражение, что позволяет методами SNOM исследовать образцы с пространственным разрешением на уровне около 100 нм;
  • реализация режима рассеивающей SNOM в видимом и среднем ИК диапазонах, обеспечивая микроскопические и спектроскопические измерения с пространственным разрешением на уровне 10 нм, что более чем на два порядка превышает дифракционный предел для соответствующего оптического диапазона.

Особенно нужно отметить наличие в управляющем ПО интеллектуального программного модуля ScanTronic™. С его использованием существенно облегчается применение базовой AFM методики – амплитудно-модуляционной (полуконтактной). Модуль ScanTronic™ позволяет в автоматическом режиме получать свободные от артефактов изображения со сниженным до минимума уровнем шумов.

Автоматическая настройка параметров сканирования и обработка изображений осуществляются за счет использования идеологии нейронных сетей. Требуя минимальных знаний о свойствах образца, ScanTronic™ полезен как для начинающих, так и для опытных пользователей, обеспечивая получение высококачественных достоверных результатов.

Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.