Новая разработка: модуль СТеМ

15.03.2010

Компания НТ-МДТ разработала модуль сканирующей тепловой микроскопии (СТеМ). СТеМ предназначена для одновременного получения изображений тепловых свойств и рельефа поверхности наноразмерных объектов. СТеМ-модуль НТ-МДТ позволяет визуализировать распределение температуры и теплопроводности на поверхности образца.
Модуль СТеМ включает в себя СТеМ вкладыш,  блок измерения температуры, программный модуль и набор специализированных зондов (с терморезистором на кончике зонда).

Блок измерения температуры Комплект СТеМ-зондов


 Технические характеристики:

Основание зонда 2 мм x 3 мм
Кантилевер (тепловой SiO2) 150 мкм х 60 мкм x 1 мкм
Резистор 5 нм NiCr ÷ 40 нм Pd
Дорожка и контактная площадка 5 нм NiCr ÷ 140 нм Au
Сопротивление 300-500 Ом
Радиус острия зонда ≤ 100 нм
Максимальная температура 160°С
Высота острия зонда ~ 10 мкм
Жёсткость кантилевера SiO2 0.45 Н/м
Резонансная частота ~ 48 кГц
Чувствительность  ок. 1 Ом / °С
Последовательные резисторы 2 x 100 Ом (± 25 Ом)

Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.