Весенние вебинары от NT-MDT Spectrum Instruments

В среду, 15 мая пройдет англоязычный вебинар “Image Processing and Analysis in Scanning Probe Microscopy: Key Aspects and Receipts”.

К.т.н. Станислав Леесмент расскажет про обработку и анализ изображений в сканирующей зондовой микроскопии, а также про подготовку образцов и получение изображений – критическим стадиям работы с СЗМ. В течение вебинара докладчик пройдется по основным фазам обработки СЗМ изображений, анализируя большинство типичных ошибок и давая рецепты для пары сложных случаев. Вторая часть вебинара будет посвящена некоторым методам анализа изображений, позволяющим получать количественную информацию из данных СЗМ.
Вебинар пройдет в среду 15 мая в 8-9 AM PTD (3-4 PM GMT). Уточните вашу временную зоны на странице регистрации.

В предыдущие три месяца прошли следующие вебинары.

"Автоматизация АСМ измерений при помощи интеллектуальной системы ScanTronic™", проведенный Директором по разработкам к.т.н. Вячеславом Поляковым.
Вебинар посвящен автоматизации настроек параметров амплитудно-модуляционной АСМ (АМ-АСМ).
Запись вебинара доступна здесь.

“Комбинация АСМ и оптических методик: новые достижения и приложения”, проведенный Ведущим специалистом по оптическим применениям к.ф.-м.н. Артемом Шелаевым.
Вебинар посвящен приложениям и новым достижениям комбинированных систем на основе атомно-силовой и оптической микроскопий.
Запись вебинара доступна здесь.

“Атомно-силовая микроскопия для исследования функциональных и смарт-материалов”, проведенного Ведущим специалистом по СЗМ применениям, к.т.н. Леесментом Станиславом Игоревичем.
В рамках вебинара рассмотрены разнообразные приложения методов АСМ к исследованию морфологических, электрических, пьезомеханических и магнитных свойств смарт- и функциональных материалов.
Запись вебинара доступна здесь.