НЕКСТ II (NEXT II) - моноблочный автоматизированный АСМ/СТМ измерительный комплекс широкого применения. НТ-МДТ СИ - АСМ-зонды, Сканирующие зондовые микроскопы (АСМ, HybriD Mode, СТМ, СЗМ, СБОМ, Раман)

НЕКСТ II

Полностью автоматизированный АСМ/СТМ для научных исследований
Скачать брошюру (4,573 Mb)

Основные особенности

  • Высочайший уровень автоматизация в СЗМ индустрии
  • Беспрецедентно низкий уровень шумов
  • Быстрый сканер, оснащенный низкошумящими датчиками
  • Атомное разрешение
  • 60+ СЗМ методов в базовой конфигурации
  • Непрерывное увеличение от миллиметров к ангстремам
  • Интеграция инновационной АСМ методикой HybriD Mode™

Максимальная автоматизация

14 высокоточных шаговых двигателей управляют всеми подвижными частями микроскопа, а интеллектуальное программное обеспечение стирает грань между оптическим и СЗМ изображением. НЕКСТ обеспечивает непрерывное увеличение от миллиметровых панорамных оптических изображений до атомарного разрешения, а такие промежуточные операции, как наведение лазера на кантилевер, позиционирование образца, «мягкий» подвод и конфигурация продвинутых СЗМ методик происходит автоматически.

Возможности автоматизации:

  • Распознавание кантилевера и автоматическая настройка системы регистрации изгибов кантилевера как на воздухе, так и в жидкости;
  • Автоматическая фокусировка оптического микроскопа;
  • Построение 7×7 мм панорамного оптического изображение с 2 мкм разрешением;
  • Позиционирование образца по целеуказанию на оптическом изображении;
  • Патентованный алгоритм «мягкого» подвода зонда и автоматическая настройка рабочих параметров сканирования;
  • Автоматическое конфигурирование ПО для всех продвинутых СЗМ методик;
  • Эргономичный 3D-манипулятор для перемещений образца и оптического микроскопа.
  • Процедура MultiScan™, позволяющая автоматически осуществлять последовательное сканирование областей до 5×5 мм с возможностью сшивки перекрывающихся сканов;
  • Возможность проведения сотен измерений в день с минимальным участием оператора;

Методики измерения

Новый СЗМ контроллер PX Ultra и программное обеспечение последнего поколения предоставляют широчайшие возможности как начинающим, так и опытным пользователям. НЕКСТ оснащен более чем 60 методиками в базовой конфигурации.

Новый PX Ultra контроллер

Благодаря использованию новейшей элементной базы, PX Ultra контроллер обладает высокой производительностью и гибкостью в конфигурировании. Низкошумящие высоковольтные усилители (шум <1 мВ/600 В) вместе с рекордно минимальными шумами системы слежения (~25 фм/√Гц) позволяют получать результат высочайшего качества, а возможность использования одновременно до 5 синхронных детекторов открывает новые возможности в исследование электрофизических свойств материалов.

Простота использования и гибкое ПО

Программное обеспечение Nova PX оснащено системой автоматической установки параметров и интеллектуальными алгоритмами для быстрой конфигурации работы НЕКСТ во всех продвинутых методиках. Наряду с быстрой конфигурацией, Nova PX даёт исследователям неограниченную гибкость в настройках.

Измерение рельефа

Рельеф поверхности измеряется с помощью контактной, амплитудно-модуляционной АСМ, а также инновационной методики HybriD Mode™, как в на воздухе, так и в жидкости.

Анализ кривых

Анализ кривых различной природы (зависимость силы, амплитуды, частоты, фазы или тока от расстояния, а также ВАХ, АЧХ и много другое) даёт в дополнение ко всему мощный инструмент для характеризации образца.

Исследование магнитных свойств

МСМ измерения НЕКСТ позволяет проводить с использованием двухпроходных методик, построчной и покадровой.

Электрические измерения

NEXT позволяет реализовать широкий спектр различных электрических измерений, таких как электростатическая силовая микроскопия с фазовой, частотной и амплитудной модуляций, Кельвин-зондовая силовая микроскопия с фазовой и амплитудной модуляцией, измерение распределения dC/dZ и dC/dV, измерение диэлектрической проницаемости, отображение сопротивления растекания и силовая микроскопия пьезоотклика.

СТМ измерения

Измерения методом сканирующей туннельной микроскопии возможны по методу постоянного тока и постоянной высоты. Кроме того возможно одновременное отображение плотности состояний и работы выхода, а также снятие зависимостей I(V), I(Z), dI/dV и dI/dZ.

Наномеханика

Одной из дополнительных возможностей NEXT является наносклерометрия. NEXT позволяет получать численные значения твёрдости и модуля Юнга с использованием зондов Берковича и стандартных АСМ кантилеверов в зависимости от свойств исследуемого образца.

Инновационная методика HybriD Mode™

HybriD Mode™ (HD-AFM™) – инновационная АСМ методика, которая с помощью контроллера HybriD даёт комплексную информацию об образце за один цикл измерений. В процессе измерений зонд тысячи раз в секунду проходит весь диапазон значимых силовых взаимодействий – от нулевого до прямого контактного взаимодействии с образцом. Это позволяет получать распределение широкого спектра морфологических, механических, химических, электрических, магнитных и других характеристик образца.

Применения

  • Все основные методики атомно-силовой микроскопии. Отображение рельефа, фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое
  • Сканирующая туннельная микроскопия
  • Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца
  • Сканер прибора оснащен емкостными низкошумящими датчиками по трём координатам, обеспечивающими возможность метрологических измерений с атомным разрешением

Микропоры в нитроцеллюлозной мембране.
АМ-АСМ. Размер скана 7×7 мкм.

Монодоменный образец BFO.
ПСМ, фаза.
Размер скана 3×3 мкм.

Молекулы PnBA на слюде.
Карта адгезии, HybriD Mode™.
Размер скана 300×300 нм.

Поверхностный потенциал SRAM.
Однопроходная АМ-КЗСМ.
Размер скана 40×40 мкм.

Кальцит, атомное разрешение.
АМ-АСМ в жидкости.
Размер скана 7×7 нм.

Изображение рельефа ab плоскости кристалла TTF-TCNQ.
АМ-АСМ. Размер скана 9×9 нм.

ВОПГ, атомное разрешение.
STM. Размер скана 2.1×2.1 нм.

Изображение тестового образца, полученное по методике MultiScan™
(12 АСМ сканов). Размер изображения 200×200 мкм.

Аксессуары

Жидкостная головка

Дополнительная измерительная головка с открытой ячейкой для измерений в жидкости

Наносклерометрическая головка

Дополнительная головка для

  • Наноиндентирования
  • Измерения твердости
  • Картирования модуля упругости

Нагревательный столик

Нагрев образца в диапазоне от КТ до 150°C

Джойстик

  • Управление x-y перемещениями образца, x-y перемещениями видеокамеры, зуммированием и фокусировкой
  • Управление 3D представлением сканов

АСМ зондовые датчики

НТ-МДТ предлагает широкий набор СЗМ датчиков, от обычных кремниевывх и поликремниевых до датчиков с ультра острыми алмазоподобными углеродными зондами, с различными покрытиями, для магнитных измерений, для СБОМ и многие другие:
контактные, проводящие контактные, бесконтактные и проводящие бесконтактные.

Спецификация

Измерительные методики

На воздухе

АСМ (контактная, амплитудно-модуляционная), АСМ спектроскопия, АСМ литография (силовая, токовая, вольтовая) , Растровая прыжковая силовая микроскопия, Латерально-силовая микроскопия, Силовая модуляционная микроскопия, Отображение сопротивления растекания, Силовая микроскопия пьезоотклика и переключательная спектроскопия, ЭСМ, Кельвин-зондовая силовая микроскопия, МСМ, СТМ (микроскопия, спектроскопия, литография) , Наносклерометрия.

В жидкости

АСМ (контактная, амплитудно-модуляционная), АСМ спектроскопия, Силовая АСМ литография, РПСМ, ЛСМ, СММ.

Технические характеристики

Измерительная система

  Измерительные головки АСМ и СТМ (стационарные, с автоматической установкой); жидкостная и наносклерометрическая (сменные, с ручной установкой)
  Доступные СЗМ методы АСМ, СТМ, наносклерометрия на воздухе АСМ, в жидкости
  Система регистрации отклонений кантилевера автоматизированная юстировка
Образец
  Размер до 20 мм в диаметре, до 10 мм в высоту
  Вес образца до 40 г
  Температурный контроль образца от комнатной до 150° С
Система сканирования
  Тип сканирования образцом
  Область сканирования 100x100x10 мкм (с датчиками обратной связи)
3x3x2 мкм в режиме высокого разрешения
  Нелинейность, XY 0.1 % (с датчиками обратной связи)
Разрешение
  Шум XY не более 0.3 нм (с датчиками обратной связи)
  Уровень шума Z (RMS в полосе 10 — 1000 Гц) 0.03 нм (типично) с датчиками обратной связи
0.02 нм в режиме высокого разрешения
Система позиционирования образца
  Способ позиционирования автоматизированный, привязанный к системе видеонаблюдения
  Диапазон, XY 5x5 мм
  Минимальный шаг 0.3 мкм
Система видеонаблюдения
  разрешение 2 мкм
  фокусировка моторизованная
  zoom непрерывное увеличение рабочей области моторизованная
Размеры и вес
  Размеры  470x210x260 мм
  Вес  25 кг

Свяжитесь с нами

Заполните форму для запроса дополнительной информации

Узнать больше