СОЛВЕР Опен – универсальный автоматизированный СЗМ. НТ-МДТ СИ – АСМ-зонды, сканирующие зондовые микроскопы (АСМ, СТМ, СЗМ, СБОМ, Раман)

СОЛВЕР Опен

Универсальный автоматизированный АСМ

Основная информация

СЗМ СОЛВЕР Опен – это полностью автоматизированный измерительный комплекс. При работе с контроллером PX Ultra он предоставляет самый широкий набор измерительных АСМ методов.


Низкий уровень шума

Высокое качество СОЛВЕР Опен обусловлено низким уровнем шумов. Прежде всего это обеспечивается жесткостью механической петли образец-зонд и низким уровнем шума системы регистрации изгибов кантилевера, достигающим 15 пм в полосе 1 кГц. Кроме того, получение АСМ изображений с высоким разрешением обеспечивается использованием в СЗМ низкошумящих емкостных датчиков обратной связи и высоковольтных усилителей контроллера PX Ultra.

Температурные измерения и контроль внешней среды

АСМ СОЛВЕР Опен комплектуется набором различных столиков и ячеек, обеспечивающих проведение измерений с нагревом и охлаждением образца, работу СЗМ в жидкости или в контролируемой атмосфере.

Малый дрейф и высокая стабильность

Уровень дрейфа в АСМ СОЛВЕР Опен составляет ~30 нм/час. Использование акустически изолированной термостабилизированной камеры позволяет снизить уровень дрейфа до ~10 нм/час. Это дает возможность получать стабильные результаты при проведении долговременных, требующих высокого разрешения экспериментов.

Алгоритм безопасного подвода

Получение изображений высокого качества определяется степенью остроты кончика зонда, который может повредиться в процессе подвода к образцу даже до начала этапа сканирования. Компания «NT-MDT Spectrum Instruments» реализовала в измерительном комплексе СОЛВЕР Опен специальный фазочувствительный алгоритм, гарантирующий сохранность кончика зонда в ходе подвода к образцу.

Дополнительная информация

Примеры применений

  • Piezoresponse Force Microscopy in Its Applications AN 083 (1,86 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Exploring Materials with AFM-based Electrostatic Modes AN 084 (2,12 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Exploring Nanomechanical Properties of Materials with Atomic Force Microscopy AN 085 (1,58 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Next Scanning Probe Microscope: Visualization of Surface Nanostructures and Morphology AN 086 (1,87 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • Expanding AFM with HybriD Mode Imaging AN 087 (2,71 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • High-Resolution Imaging in Different Atomic Force Microscopy Modes. Summary AN 088s (1,13 Mb)
    Size: A4 or Letter
  • High-Resolution Imaging in Different Atomic Force Microscopy Modes AN 088 (1,73 Mb)
    Size: A4 or Letter

Применения

Благодаря широкому разнообразию методов и методик зондовых измерений СЗМ СОЛВЕР Опен применяется для решения многих научных задач, а также в нанотехнологиях. Способность измерительного комплекса СОЛВЕР Опен осуществлять сканирование с атомным разрешением соответствует высоким требованиям при проведении физико-химических исследований твердотельных материалов, низкоразмерных наноструктур и наноматериалов.

ВОПГ, АМ-АСМ.
Размер скана 1.5×1.5 мкм

Алканы C60H122, АМ-АСМ.
Размер скана 400×400 нм

ДНК на слюде, АМ-АСМ.
Размер скана 1×1 мкм

Celgard, AM-AFM.
Размер скана 1×1 мкм

Атомы кальцита, АМ-АСМ в воде.
Размер скана 11×11 нм

Флуороалканы F14H20, АМ-АСМ.
Размер скана 500×500 нм<

Спецификация

Измерительные методы

Контактная АСМ, амплитудно-модуляционная АСМ, АСМ-спектроскопия, АСМ-литография (силовая, токовая, вольтовая), растровая прыжковая сканирующая микроскопия (РПСМ), ЛСМ, СММ, отображение сопротивления растекания, ПСМ и переключательная спектроскопия, ЭСМ, Кельвин-зондовая силовая микроскопия (КЗСМ), МСМ, СТМ.

Конфигурация "сканирование образцом"

Размер образца: до 30 мм в диаметре, до 24 мм в высоту

Диапазоны сканирования:

  • 100 × 100 × 10 мкм (ОС)
  • 3 × 3 × 2.5 мкм
  • 1 × 1 × 2.5 мкм

Автоматизированного позиционирование образца:

  • Диапазон XY: 15 × 15 мм
  • Минимальный шаг: 0.3 мкм
  • Оптические энкодеры: доступны по запросу

Контроль температуры образца и окружающей среды:

  • КТ .. 150 °C на воздухе
  • КТ .. 65 °C в жидкости

Система видеонаблюдения:

  • Разрешение: 1 мкм
  • Поле зрения: от 0,12×0,16 до 0,76×1,03 мм
  • Увеличение: от 4х до 30х

Конфигурация "сканирование зондом"

Размер образца: до 50 мм в диаметре (допускается исследование 100 мм пластин при ограничении диапазона XY позиционирования), до 24 мм в высоту

Диапазон сканирования: 100 × 100 × 10 мкм (ОС)

Автоматизированного позиционирование образца:

  • Диапазон XY: 35 × 35 мкм
  • Минимальный шаг: 0.3 мкм

Контроль температуры образца и окружающей среды:

  • -20 .. 150 °C на воздухе
  • RT-15 .. 65 °C в жидкости
  • Электрохимическая ячейка

Система видеонаблюдения:

  • Разрешение: 2 мкм
  • Поле зрения: от 0,23×0,3 до 1,44×1,94 мм
  • Увеличение: от 1,4х до 9,08х

Свяжитесь с нами

Заполните форму для запроса дополнительной информации

Узнать больше