СЗМ СОЛВЕР Опен – это полностью автоматизированный измерительный комплекс. При работе с контроллером PX Ultra он предоставляет самый широкий набор измерительных АСМ методов.
Универсальный автоматизированный АСМ
СЗМ СОЛВЕР Опен – это полностью автоматизированный измерительный комплекс. При работе с контроллером PX Ultra он предоставляет самый широкий набор измерительных АСМ методов.
Высокое качество СОЛВЕР Опен обусловлено низким уровнем шумов. Прежде всего это обеспечивается жесткостью механической петли образец-зонд и низким уровнем шума системы регистрации изгибов кантилевера, достигающим 15 пм в полосе 1 кГц. Кроме того, получение АСМ изображений с высоким разрешением обеспечивается использованием в СЗМ низкошумящих емкостных датчиков обратной связи и высоковольтных усилителей контроллера PX Ultra.
АСМ СОЛВЕР Опен комплектуется набором различных столиков и ячеек, обеспечивающих проведение измерений с нагревом и охлаждением образца, работу СЗМ в жидкости или в контролируемой атмосфере.
Уровень дрейфа в АСМ СОЛВЕР Опен составляет ~30 нм/час. Использование акустически изолированной термостабилизированной камеры позволяет снизить уровень дрейфа до ~10 нм/час. Это дает возможность получать стабильные результаты при проведении долговременных, требующих высокого разрешения экспериментов.
Получение изображений высокого качества определяется степенью остроты кончика зонда, который может повредиться в процессе подвода к образцу даже до начала этапа сканирования. Компания «NT-MDT Spectrum Instruments» реализовала в измерительном комплексе СОЛВЕР Опен специальный фазочувствительный алгоритм, гарантирующий сохранность кончика зонда в ходе подвода к образцу.
Благодаря широкому разнообразию методов и методик зондовых измерений СЗМ СОЛВЕР Опен применяется для решения многих научных задач, а также в нанотехнологиях. Способность измерительного комплекса СОЛВЕР Опен осуществлять сканирование с атомным разрешением соответствует высоким требованиям при проведении физико-химических исследований твердотельных материалов, низкоразмерных наноструктур и наноматериалов.
Контактная АСМ, амплитудно-модуляционная АСМ, АСМ-спектроскопия, АСМ-литография (силовая, токовая, вольтовая), растровая прыжковая сканирующая микроскопия (РПСМ), ЛСМ, СММ, отображение сопротивления растекания, ПСМ и переключательная спектроскопия, ЭСМ, Кельвин-зондовая силовая микроскопия (КЗСМ), МСМ, СТМ.
Размер образца: до 30 мм в диаметре, до 24 мм в высоту
Диапазоны сканирования:
Автоматизированного позиционирование образца:
Контроль температуры образца и окружающей среды:
Система видеонаблюдения:
Размер образца: до 50 мм в диаметре (допускается исследование 100 мм пластин при ограничении диапазона XY позиционирования), до 24 мм в высоту
Диапазон сканирования: 100 × 100 × 10 мкм (ОС)
Автоматизированного позиционирование образца:
Контроль температуры образца и окружающей среды:
Система видеонаблюдения: