СОЛВЕР Нано - сканирующий зондовый микроскоп для любых рутинных АСМ и СТМ измерений и экспериментов в научных исследованиях

СОЛВЕР Нано

Атомно-силовой микроскоп для научных исследований, практических применений и образования

СОЛВЕР Нано – это сканирующий зондовый микроскоп, который сочетает в себе простоту, устойчивость к случайным поломкам, низкую стоимость эксплуатации, возможность использовать в образовательном процессе и профессиональный функционал атомно-силового микроскопа.

СОЛВЕР Нано может быть использован в различных научных и практических приложениях.

Приложения

Научные исследования

СОЛВЕР Нано, несмотря на свою компактность и простоту эксплуатации, поддерживает все базовые методики атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопий, поэтому он может быть использован для любых рутинных АСМ и СТМ измерений и экспериментов в научных исследованиях. Для примера показаны результаты некоторых экспериментов в различных научных приложениях:

  1. Исследование атомных структур
  2. Исследование металлических наноструктур
  3. Исследование магнитных структур
  4. Исследование полимерных объектов
  5. Исследование биологических объектов
  6. Исследование углеродных наноматериалов

Атомная решетка ВОПГ.
Размер скана 4×4 нм.
Контактная латеральная АСМ

Атомные слои на графите.
Размер скана 1.8×1.8 мкм.
АМ АСМ

Клетки крови.
Размер скана 50×50 мкм.
АМ АСМ

Магнитные домены НЖМД.
Размер скана 30×30 мкм.
АМ МСМ

Серебряные проволоки.
Размер скана 4×4 мкм.
АМ АСМ

Смесь полистирен-полиэтилена.
Размер скана 20×20 мкм.
HybriD метод АСМ

Флуороалканы.
Размер скана 500×500 нм.
АМ АСМ

C60H122 на ВОПГ.
Размер скана 250×250 нм.
АМ АСМ

В базовой комплектации СОЛВЕР Нано включает базовый блок с кантилеверной измерительной АСМ и СТМ головками.

Сканирующий базовый блок
Содержит сканер, устройство позиционирования образца, встроенную USB видеосистему


Кантилеверная АСМ головка
Допускает установку стандартных АСМ зондов


СТМ головка
Допускает установку сменных вкладышей для СТМ/АСМ проволочных зондов

Эксперименты были проведены на конфигурации SOLVER Nano для научных исследований:

  1. Сканирующая головка для работы с кремниевыми зондами;
  2. Метрологический пьезокерамический сканер 100х100х12 мкм с системой обратной связи на емкостных сенсорах;
  3. Цифровой контроллер обратной связи для работы с расширенным набором методик;
  4. Активная виброизоляция;
  5. Звукоизолирующий шкаф;
  6. Профессиональное программное обеспечение для обработки изображений;
  7. Внешняя оптическая система высокого разрешения 2 мкм.

Функциональные возможности СОЛВЕР Нано существенно увеличиваются за счет использования различных опций:

Термостолик

Внешняя видеокамера наблюдения образца

Пассивная виброзащитная система

Активная виброзащитная система

Доступные методики зондовой микроскопии

HybriDTM метод АСМ

Контактная АСМ
Метод постоянной высоты
Метод постоянной силы
Отображение сигнала обратной связи
Метод латеральных сил
Отображение сопротивления растекания
Метод модуляции силы
Силовая микроскопия пьезоэлектрического отклика

Амплитудно-модуляционная АСМ,
режимы отталкивания и притяжения

Отображение рельефа
Отображение фазы
Отображение сигнала обратной связи

Электростатическая силовая микроскопия
Сканирующая емкостная силовая микроскопия
Кельвин-зондовая силовая микроскопия

Магнитно-силовая микроскопия

АСМ спектроскопия
Силовая спектроскопия
Отображение адгезионных сил
Амплитудная спектроскопия
Фазовая спектроскопия
Частотная спектроскопия
Резонансная спектроскопия

СТМ методики
Метод постоянного тока
Метод постоянной высоты
Отображение работы выхода
Отображение плотности состояний
I(z) Спектроскопия
I(V) Спектроскопия

Литография
АСМ анодно-окислительная литография
СТМ литография
АСМ литография - гравировка
АСМ литография - чеканка

Технические характеристики

Основные характеристики:

Сканер: 100x100x12 мкм с датчиками обратной связи, 3x3x3 мкм без датчиков обратной связи
АСМ разрешение: 0.01 нм
Контролируемые условия: Измерения на воздухе и в жидкости
Комбинированные оптические системы: Встроенная 100-кратная оптическая USB система.
Внешняя 500x оптическая система
Конструкция: Настольный микроскоп, дружественный интерфейс и защита от случайных поломок

Сканер:

Поле сканирования: Режим высокого напряжения: 100x100x12 мкм
Режим низкого напряжения: 3x3x3 мкм
Тип сканера: Метрологический пьезокерамический XYZ сканер с сенсорами обратной связи
Тип сенсоров: XYZ – сверхбыстрые емкостные датчики
Шум сенсоров: Низкошумящие XY сенсоры: < 0.3 нм
Низкошумящие Z сенсоры: < 0.03 нм
Линейность сенсоров: Метрологические XY сенсоры: < 0.1%
Метрологические Z сенсоры: < 0.1%
Общие параметры сканера: 100x100x12 мкм с сенсорами. 3x3x3 мкм без сенсоров
Разрешение: XY -0.3 нм, Z – 0.03 нм
Линейность: XY - < 0.1%, Z - < 0.1%
Разрешение: XY -0.05 нм, Z – 0.01 нм

Образец:

Диапазон позиционирования: 12 мм
Разрешение позиционирования: 1.5 мкм
Размер образца: до 1,5” X 1,5” X 1/2”, 35x35x12 мм
Вес образца: до 100 г
Алгоритм интеллектуального подвода: Встроен в ПО (гарантированно зонд не касается поверхности при подводе)

Сканирующие головки:

АСМ головка для Si зондов: Доступна в спецификации
Все коммерческие зонды могут быть использованы
Тип детектирования: Лазер-фотодиод
Держатель зонда: Держатель для измерений на воздухе и держатель для измерений в жидкости
Тип установки головки: Кинематическая установка
Точность установки: 150 нм (снять/поставить)
СТМ головка: Доступна в спецификации. Pt|Ir проволока для СТМ измерений

Подвод

Автоматическая процедура подвода к поверхности
Автоматическая процедура интеллектуального подвода к поверхности (гарантированно без контакта иглы и образца)
Ручное управление шаговыми двигателями
Осциллограф сигналов в реальном времени

Сканирование

До 8 сигналов одновременно в одном сканировании
До 8K точек
Автоматическая установка параметров сканирования по одному клику
Удобный ручной выбор поля сканирования, в том числе по видео сигналу
Многопроходные методики
Циклическое сканирование
Временная пауза сканирования
Режим предварительного сканирования
Режим расширенного поля сканирования
Сканирование под углом
Режим сканирования неквадратных площадей
Онлайн 3D вид
Автоматическая PID установка>

Образовательные применения

Особый интерес представляет конфигурация СОЛВЕР Нано для применения в образовательных целях – конфигурация НАНОЭДЮКАТОР II.

Скачать

Учебное пособие для студентов старших курсов ВУЗов

Свяжитесь с нами

Заполните форму для запроса дополнительной информации

Узнать больше