Встречно-штырьевая решетка

MDT-file: Загрузить

Изображение высоты (a) и изображения, полученные методом зонда Кельвина (b, c), встречно-штырьевой решетки с тремя участками с разным периодом (1.2, 0.6 и 0.3 микрона). Нижний  электрод заземлен, верхний имеет потенциал +1.3 В (b) и -0.6 В (с).

Изображение получено Кузнецовым E., НТ-МДТ, Россия, Москва.
Образец представлен Борисовым В.,  Институт Радиотехники и Электроники РАН, Фрязино, Россия и  Лапиным В., ФГУП «НПП ИСТОК», Фрязино.


fingergrating
fingergrating
Встречно-штырьевая решетка

Изображение высоты (a) и изображения, полученные методом зонда Кельвина (b, c), встречно-штырьевой решетки с тремя участками с разным периодом (1.2, 0.6 и 0.3 микрона). Нижний  электрод заземлен, верхний имеет потенциал +1.3 В (b) и -0.6 В (с).

Изображение получено Кузнецовым E., НТ-МДТ, Россия, Москва.
Образец представлен Борисовым В.,  Институт Радиотехники и Электроники РАН, Фрязино, Россия и  Лапиным В., ФГУП «НПП ИСТОК», Фрязино.


size: 37x37 um
SPM principle: Kelvin Probe Force Microscopy
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.