Скол AlGaN/GaN сверхрешетки

АСМ изображение AlGaN/GaN сверхрешетки с 57 ангстремным шагом, полученное методом локальной жесткости (модуляции силы).

Изображение представлено Александром Анкудиновым и М. Дунаевским(группа А.Н. Титкова),
Физико-Технический институт им. А.Ф. Иоффе, С.-Петербург


cross-section_of_algan_gan_superlattice_300x300_n
cross-section_of_algan_gan_superlattice_300x300_n
Скол AlGaN/GaN сверхрешетки

АСМ изображение AlGaN/GaN сверхрешетки с 57 ангстремным шагом, полученное методом локальной жесткости (модуляции силы).

Изображение представлено Александром Анкудиновым и М. Дунаевским(группа А.Н. Титкова),
Физико-Технический институт им. А.Ф. Иоффе, С.-Петербург


size: 300x300 nm
SPM principle: Force Modulation microscopy
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.