+1-480-493-0093
Leading the Way in Nanoscale Analysis
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Теоретические основы СЗМ
Основы работы сканирующего зондового микроскопа
1. Сканирующий туннельный микроскоп
1. Сканирующий туннельный микроскоп
1.1 Физические основы работы СТМ
1.1.1 Функция состояния системы, уравнение Шредингера. Туннельный эффект
1.1.2 Туннельный эффект в квазиклассическом приближении
1.1.3 Зонная структура металлов, энергетическое распределение электронов в металле
1.2 Туннельный ток в системе металл-диэлектрик-металл (МДМ)
1.2.1 Формула John G. Simmons
1.2.2 Формула John G. Simmons в случае малого, промежуточного и высокого напряжения
1.2.1 Приложение
1.3 «Наблюдаемые» физические величины в СТМ
1.3.1 Вольт-амперная характеристика
1.3.2 Характеристика ток-расстояние
1.3.3 Измерение распределения плотности электронных состояний
1.3.4 Измерение распределения работы выхода электронов
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности