СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ

ВЕГА

Атомно-Силовой Микроскоп для микроэлектроники.
Контроль пластин и полупроводниковых структур
диаметром до 200 мм
Versatile automated AFM-Raman, SNOM and TERS system

ИНТЕГРА Нано ИК

Ультрастабильный АСМ-ИК & СБОМ
для микроскопии и спектроскопии
Versatile automated AFM-Raman, SNOM and TERS system

ИНТЕГРА Спектра II

Многофункциональная автоматизированная
система для АСМ-Раман, СБОМ и TERS исследований
Versatile automated AFM-Raman, SNOM and TERS system

HybriD Mode™

Инновационная АСМ методика
Всесторонняя характеризация материалов
Непревзойденное качество и количественный анализ
Морфологические, механические, химические,
электрические магнитные и прочие свойства
за один цикл сканирования

Совместимость с моделями: TITANIUM, NEXT,
NTEGRA Prima, NTEGRA Spectra II 

NANOEDUCATOR II

Учебно-научный комплекс
для преподавания основ нанотехнологии

NEXT

Полностью автоматизированный АСМ/СТМ
для широкого круга исследований
 
 

Проведенные вебинары

Nanoscale IR Microscopy and Spectroscopy
NT-MDT SI is happy to present a unique system which combines latest developments in AFM and s-SNOM techniques, called NTEGRA Nano IR – the most advanced system for Nanoscale IR Microscopy and Spectroscopy.
In this webinar we show how the combination of low thermal drift and low noise AFM with s-SNOM IR helps to obtain perfect high resolution results on various samples. Webinar took place on October 11, 2017.

Атомно-силовой микроскоп VEGA
 
Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп для образцов с размерами до 200х200 мм и весом до 5 кг. Благодаря использованию встроенной акусто- и виброизоляции, термостабилизации, лучшей в индустрии чувствительности оптической системы регистрации и уникальной конструкции системы сканирования зондом, достигается предельное качество изображении, вплоть до атомного разрешения  

Приборы НТ-МДТ СИ – измерительные возможности

Семейство приборов НТ-МДТ СИ для сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) включает набор устройств, которые удовлетворяют различным потребностям пользователей в изучении свойств материалов с нанометровым разрешением и охватывают самые разные области применения. НТ-МДТ СИ предлагает купить современные сканирующие зондовые микроскопы с широким набором функций по цене производителя.

Помимо высокой разрешающей способности при визуализации поверхностных структур с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ), что является основной функцией всех наших устройств, начиная с простейшего прибора – NANOEDUCATOR II, наши микроскопы включают в себя большой набор методик для наноразмерных механических, тепловых, электромагнитных и спектроскопических исследований.

Для каждой области применения пользователь может использовать сканирующий микроскоп с наибольшей результативностью, оптимизируя измерительные возможности выбором соответствующей методики.

Широкие возможности уже в базовой комплектации

Для визуализации поверхностных структур возможен выбор контактного метода, амплитудно-модуляционного метода с отображением фазы либо частоты или частотно-модуляционного метода. Для изучения локальных наномеханических свойств микроскопы предоставляют несколько возможностей, включая количественное картирование модуля упругости и работы адгезии с применением HybriDTM метода с пространственным разрешением до 10 нм.

АСМ исследования электрических свойств с помощью микроскопа могут выполняться с применением одно- или двухпроходных методик, при этом достигается нанометровое разрешение при картировании поверхностного потенциала и градиентов емкости (dC/dZ и dC/dV). Отклик dC/dZ непосредственно связан с локальной диэлектрической проницаемостью, а сигнал dC/dV – с подвижностью носителей заряда. На наших микроскопах реализованы также несколько уникальных методик, в частности таких, как измерение коэффициента Зеебека и измерение теплопроводности.

Многие из СЗМ применений ориентированы на отображение структуры многокомпонентных материалов. Важную специфическую информацию о химическом составе компонентов обеспечивает добавление к АСМ спектроскопических методов – комбинационного (рамановского) рассеяния и анализа инфракрасного (ИК) отклика.

Решения, соответствующие потребностям пользователей

НТ-МДТ СИ предлагает широкий спектр микроскопов, которые учитывают конкретные потребности пользователей. Среди них СЗМ SOLVER Nano – эффективное решение для образования и научных исследований; ИНТЕГРА Прима – гибкое устройство для обычных и сложных приложений; NEXT / TITANIUM – простой автоматизированный зондовый микроскоп; ИНТЕГРА Спектра II – синергетическая интеграция АСМ с оптическими методами, ИНТЕГРА ИК – новый инструмент для одновременных АСМ и ближнепольных ИК исследований.

Все микроскопы можно купить с различными контроллерами, дающими возможность проведения высококачественных измерений с применением развитых СЗМ методик. В цену наших микроскопов включены вспомогательные устройства и принадлежности, позволяющие проводить измерения в жидкости и при различных температурах. Термостатирующий шкаф для микроскопов НТ-МДТ СИ обеспечивает исключительную температурную стабильность и превосходную защиту от акустических и вибрационных шумов, что является основными условиями для высокоэффективных СЗМ измерений.

 
 
Copyright © 2015 - 2017, NT-MDT SI