СЗМ Раман Нано ИК системы
Модульные СЗМ
Автоматизированные СЗМ
Специализированные СЗМ

HybriD Mode™

Инновационная АСМ методика
Всесторонняя характеризация материалов
Непревзойденное качество и количественный анализ
Морфологические, механические, химические,
электрические магнитные и прочие свойства
за один цикл сканирования

Совместимость с моделями: TITANIUM, NEXT,
NTEGRA Prima, NTEGRA Spectra II

ВЕГА

Атомно-Силовой Микроскоп для микроэлектроники.
Контроль пластин и полупроводниковых структур
диаметром до 200 мм
Versatile automated AFM-Raman, SNOM and TERS system

ИНТЕГРА Нано ИК

Ультрастабильный АСМ-ИК & СБОМ
для микроскопии и спектроскопии
Versatile automated AFM-Raman, SNOM and TERS system

ИНТЕГРА Спектра II

Многофункциональная автоматизированная
система для АСМ-Раман, СБОМ и TERS исследований
Versatile automated AFM-Raman, SNOM and TERS system

NANOEDUCATOR II

Учебно-научный комплекс
для преподавания основ нанотехнологии

NEXT

Полностью автоматизированный АСМ/СТМ
для широкого круга исследований
 
 

Webinars

NT-MDT Spectrum Instruments is proud to invite you to our first webinar ‘2018:
“AFM integration with Laser Spectroscopy: Challenges, Solutions, Advantages”

On the webinar we will discuss the basics of technology, as well as the advanced features provided by the deep integration of AFM & Raman. Recent results published in prestigious scientific journals will be discussed.   NT-MDT SI was the first company to introduce the commercially available AFM-Raman system in 1998. Since then, NT-MDT SI has been a world leader in integrated solutions for AFM-Raman and TERS with more than 260 installations worldwide.  

To register to the webinar please follow the registration link. Please check your time zone settings at the registration page.

The webinar will take place on Thu, Jan 18, 2018 7:00 PM MSK

Атомно-силовой микроскоп VEGA
 
Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп для образцов с размерами до 200х200 мм и весом до 5 кг. Благодаря использованию встроенной акусто- и виброизоляции, термостабилизации, лучшей в индустрии чувствительности оптической системы регистрации и уникальной конструкции системы сканирования зондом, достигается предельное качество изображении, вплоть до атомного разрешения  

Приборы НТ-МДТ СИ – измерительные возможности

Семейство приборов НТ-МДТ СИ для сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) включает набор устройств, которые удовлетворяют различным потребностям пользователей в изучении свойств материалов с нанометровым разрешением и охватывают самые разные области применения. НТ-МДТ СИ предлагает купить современные сканирующие зондовые микроскопы с широким набором функций по цене производителя.

Помимо высокой разрешающей способности при визуализации поверхностных структур с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ), что является основной функцией всех наших устройств, начиная с простейшего прибора – NANOEDUCATOR II, наши микроскопы включают в себя большой набор методик для наноразмерных механических, тепловых, электромагнитных и спектроскопических исследований.

Для каждой области применения пользователь может использовать сканирующий микроскоп с наибольшей результативностью, оптимизируя измерительные возможности выбором соответствующей методики.

Широкие возможности уже в базовой комплектации

Для визуализации поверхностных структур возможен выбор контактного метода, амплитудно-модуляционного метода с отображением фазы либо частоты или частотно-модуляционного метода. Для изучения локальных наномеханических свойств микроскопы предоставляют несколько возможностей, включая количественное картирование модуля упругости и работы адгезии с применением HybriDTM метода с пространственным разрешением до 10 нм.

АСМ исследования электрических свойств с помощью микроскопа могут выполняться с применением одно- или двухпроходных методик, при этом достигается нанометровое разрешение при картировании поверхностного потенциала и градиентов емкости (dC/dZ и dC/dV). Отклик dC/dZ непосредственно связан с локальной диэлектрической проницаемостью, а сигнал dC/dV – с подвижностью носителей заряда. На наших микроскопах реализованы также несколько уникальных методик, в частности таких, как измерение коэффициента Зеебека и измерение теплопроводности.

Многие из СЗМ применений ориентированы на отображение структуры многокомпонентных материалов. Важную специфическую информацию о химическом составе компонентов обеспечивает добавление к АСМ спектроскопических методов – комбинационного (рамановского) рассеяния и анализа инфракрасного (ИК) отклика.

Решения, соответствующие потребностям пользователей

НТ-МДТ СИ предлагает широкий спектр микроскопов, которые учитывают конкретные потребности пользователей. Среди них СЗМ SOLVER Nano – эффективное решение для образования и научных исследований; ИНТЕГРА Прима – гибкое устройство для обычных и сложных приложений; NEXT / TITANIUM – простой автоматизированный зондовый микроскоп; ИНТЕГРА Спектра II – синергетическая интеграция АСМ с оптическими методами, ИНТЕГРА ИК – новый инструмент для одновременных АСМ и ближнепольных ИК исследований.

Все микроскопы можно купить с различными контроллерами, дающими возможность проведения высококачественных измерений с применением развитых СЗМ методик. В цену наших микроскопов включены вспомогательные устройства и принадлежности, позволяющие проводить измерения в жидкости и при различных температурах. Термостатирующий шкаф для микроскопов НТ-МДТ СИ обеспечивает исключительную температурную стабильность и превосходную защиту от акустических и вибрационных шумов, что является основными условиями для высокоэффективных СЗМ измерений.

 
 
Copyright © 2015 - 2018, NT-MDT SI