Новая, не имеющая аналогов, АСМ методика в линейке приборов NT-MDT SI

29.12.2017

На выставке MRS Fall (Бостон, США) на стенде NT-MDT SI среди прочего была представлена новая методика проведения измерений электромеханических характеристик наноструктур с применением силовой микроскопии пьезоотклика (СМП). Основу методики составил нерезонансный прерывисто-контактный метод сканирования - HybriD (HD) метод, позволяющий сканировать в т.ч. хрупкие, слабо закрепленные нанообъекты.

Впечатляющим примером применения методики HD СМП стало исследование электромеханических свойств пептидных нанотрубок (журнал Ultramicroscopy) диаметром менее 100 нм. С использованием HD СМП наряду с общим рельефом расположения были измерены модуль Юнга и латеральный пьезоотклик отдельных нанотрубок.

Более развернутый рассказ об этой работе см. на сайте Нанотехнологического Сообщества Нанометр.

О перспективах использования пептидных нанотрубок см. публикацию на сайте www.ria.ru .

Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.