Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия

Продукция

СЗМ Раман Нано ИК

Интеграция атомно-силовой микроскопии с оптическими методами исследования

ИНТЕГРА Спектра II

Многофункциональная автоматизированная система для АСМ-Раман, СБОМ и TERS исследований

ИНТЕГРА Нано ИК

Ультрастабильный АСМ-ИК & СБОМ для микроскопии и спектроскопии

Модульные СЗМ

АСМ системы широкого применения Конфигурирование под конкретную задачу

ИНТЕГРА

Поддерживает все основные методики АСМ и СТМ. Может быть сконфигурирована для проведения узкоспециализированных исследований.

Автоматизированные АСМ

Новая линия простого в использовании АСМ / СТМ оборудования для применения в науке и промышленности

НЕКСТ II

Полностью автоматизированный АСМ/СТМ для научных исследований

ВЕГА

Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп для большеразмерных образцов

СОЛВЕР Опен

СЗМ Солвер ОПЕН обладает широчайшим набором методов измерений, сочетает высокое разрешение и гибкость применений.

Специализированные СЗМ

СОЛВЕР Нано

Атомно-силовой микроскоп для научных исследований, практических применений и образования

СОЛВЕР Пайп II

Аппаратно-программный комплекс на основе атомно-силовой микроскопии для неразрушающей диагностики конструкционных материалов

Функциональные применения

HybriD Mode™

Одно измерение – множество свойств. HybriD Mode™ (HD-AFM™) является инновационным методом атомно-силовой микроскопии, открывающим новые степени свободы в характеризации нанообъектов.

PX Ultra контроллер

PX Ultra контроллер с 5 синхронными детекторами и повышенными возможностями организации обратных связей выведет ваш прибор на качественно новый уровень измерений с применением большего числа методик, в т.ч. многочастотных методов ЭСМ и КЗСМ.

Измерение изменения массы

Сочетание в одном приборе пьезокварцевых микровесов и атомно-силового микроскопа позволяют проводить одновременные исследования локальных свойств поверхности и изменение массы образца.

Термостатирующий шкаф

NT-MDT SI предлагает новый Термостатирующий шкаф, обеспечивающий низкодрейфовую температурную среду для сканирующих зондовых микроскопов: NEXT, NTEGRA Prima, и Titanium.

Сканирующая тепловая микроскопия (СТеМ)

Предназначена для одновременного получения изображений рельефа поверхности и распределения тепловых свойств наноразмерных объектов.

Продукция

СЗМ Раман Нано ИК

Модульные СЗМ

Автоматизированные АСМ

Специализированные СЗМ

Функциональные применения

Новости

События

Применения

Функции

Галерея сканов