Продукция

СЗМ Раман Нано ИК

Интеграция атомно-силовой микроскопии с оптическими методами исследования

ИНТЕГРА Спектра II

Многофункциональная автоматизированная система для АСМ-Раман, СБОМ и TERS исследований

ИНТЕГРА Нано ИК

Ультрастабильный АСМ-ИК & СБОМ для микроскопии и спектроскопии

Модульные СЗМ

АСМ системы широкого применения Конфигурирование под конкретную задачу

ИНТЕГРА

Создана для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических и химических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования.

Автоматизированные АСМ

Новая линия простого в использовании АСМ / СТМ оборудования для применения в науке и промышленности

НЕКСТ II

Полностью автоматизированный АСМ/СТМ для научных исследований

ВЕГА

Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп для большеразмерных образцов

СОЛВЕР Опен

СЗМ Солвер ОПЕН обладает широчайшим набором методов измерений, сочетает высокое разрешение и гибкость применений.

Специализированные СЗМ

НАНОЭДЬЮКАТОР II

Учебный сканирующий зондовый микроскоп для школьников, кадетов, студентов и курсантов

СОЛВЕР Нано

Атомно-силовой микроскоп для научных исследований, практических применений и образования

СОЛВЕР Пайп II

Аппаратно-программный комплекс на основе атомно-силовой микроскопии для неразрушающей диагностики конструкционных материалов

Функциональные применения

Программный модуль ScanTronic™

Сделайте АМ-АСМ легкодоступной для исследователей любого уровня.

RapidScan

Увеличьте на порядок скорость сканирования вашего АСМ.

HybriD Mode™

Расширьте возможности одновременного картирования различных свойств материалов.

PX Ultra контроллер

PX Ultra контроллер с 5 синхронными детекторами и повышенными возможностями организации обратных связей выведет ваш прибор на качественно новый уровень измерений с применением большего числа методик, в т.ч. многочастотных методов ЭСМ и КЗСМ.

Измерение изменения массы

Сочетание в одном приборе пьезокварцевых микровесов и атомно-силового микроскопа позволяют проводить одновременные исследования локальных свойств поверхности и изменение массы образца.

Термостатирующий шкаф

NT-MDT SI предлагает новый Термостатирующий шкаф, обеспечивающий низкодрейфовую температурную среду для сканирующих зондовых микроскопов: NEXT, NTEGRA Prima, и Titanium.

Сканирующая тепловая микроскопия (СТеМ)

Предназначена для одновременного получения изображений рельефа поверхности и распределения тепловых свойств наноразмерных объектов.

NT-MDT Spectrum Instruments

Продукция

СЗМ Раман Нано ИК

Модульные СЗМ

Автоматизированные АСМ

Специализированные СЗМ

Функциональные применения

Новости

События

Применения

Функции

Галерея сканов