Продукция

СЗМ Раман Нано ИК

Интеграция атомно-силовой микроскопии с оптическими методами исследования

ИНТЕГРА Спектра II
Многофункциональная автоматизированная система для АСМ-Раман, СБОМ и TERS исследований
ИНТЕГРА Нано ИК
Ультрастабильный АСМ-ИК & СБОМ для микроскопии и спектроскопии

Модульные СЗМ

АСМ системы широкого применения Конфигурирование под конкретную задачу

ИНТЕГРА
Поддерживает все основные методики АСМ и СТМ. Может быть сконфигурирована для проведения узкоспециализированных исследований.

Автоматизированные АСМ

Новая линия простого в использовании АСМ / СТМ оборудования для применения в науке и промышленности

НЕКСТ II
Полностью автоматизированный АСМ/СТМ для научных исследований
ВЕГА
Высокопроизводительный атомно-силовой микроскоп для большеразмерных образцов
СОЛВЕР Опен
СЗМ Солвер ОПЕН обладает широчайшим набором методов измерений, сочетает высокое разрешение и гибкость применений.

Специализированные СЗМ

СОЛВЕР Нано
Атомно-силовой микроскоп для научных исследований, практических применений и образования
СОЛВЕР Пайп II
Аппаратно-программный комплекс на основе атомно-силовой микроскопии для неразрушающей диагностики конструкционных материалов
HybriD Mode™
Одно измерение – множество свойств. HybriD Mode™ (HD-AFM™) является инновационным методом атомно-силовой микроскопии, открывающим новые степени свободы в характеризации нанообъектов.
PX Ultra контроллер
PX Ultra контроллер с 5 синхронными детекторами и повышенными возможностями организации обратных связей выведет ваш прибор на качественно новый уровень измерений с применением большего числа методик, в т.ч. многочастотных методов ЭСМ и КЗСМ.
Измерение изменения массы
Сочетание в одном приборе пьезокварцевых микровесов и атомно-силового микроскопа позволяют проводить одновременные исследования локальных свойств поверхности и изменение массы образца.
Термостатирующий шкаф
NT-MDT SI предлагает новый Термостатирующий шкаф, обеспечивающий низкодрейфовую температурную среду для сканирующих зондовых микроскопов: NEXT, NTEGRA Prima, и Titanium.
Сканирующая тепловая микроскопия (СТеМ)
Предназначена для одновременного получения изображений рельефа поверхности и распределения тепловых свойств наноразмерных объектов.