Рус
+1-480-493-0093

Применения

Piezoresponse Force Microscopy Scientific Digest

Дайджест научных статей 105d

Piezoresponce Force Microscopy (PFM) is an AFM mode which probes the mechanical deformation of a sample in response to an electric field which is applied between tip and sample. It allows to visualize ferroelectric domains, perform direct measurement of piezoelectric coefficients, study the dynamics of domain walls, etc. with high spatial resolution. These studies are essential for understanding the nature of new functional materials and devices for optoelectronics, data storage, medical diagnostics, actuators, etc.
pdf

Программный модуль ScanTronic™

Application Note 104

Atomic Force Microscopy is not simple to use, which elicits varied results between researchers with different levels of experience. NT-MDT Spectrum Instruments (formerly NT-MDT) have created the intelligent software, ScanT™, inspired by neural networks to make dynamic amplitude modulation AFM (AM-AFM) easy for researchers of every skill level.
pdf

Scanning Near-Field Optical Microscopy

Дайджест научных статей 103d

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) позволяет изучать оптические свойства образца с разрешением, намного превышающим дифракционный предел. Флуоресценция, световое излучение, пропускание, рассеяние и т. д. Образца можно отображать с пространственным разрешением до десятков нанометров.
Существуют два основных подхода к ближнепольной микроскопии: апертурный СБОМ и безапертурные методы.

pdf (1.5 Mb, EN)

Confocal Raman Microscopy

Дайджест научных статей 102d

Интеграция АСМ с конфокальной рамановской / флуоресцентной микроскопией обеспечивает широкий спектр физической и химической информации об образце. Одновременно измеренные карты АСМ и комбинационного рассеяния света одной и той же области образца предоставляют дополнительную информацию о физических свойствах образца (АСМ) и химическом составе (комбинационное рассеивание).

pdf (1.1 Mb, EN)

Tip-Enhanced Raman Spectroscopy

Дайджест научных статей 101d

Рамановское рассеяние с усилением наконечником (TERS, нано-рамановское рассеяние) - это метод усиления слабых рамановских сигналов и получения рамановских изображений сверхвысокого разрешения с пространственным разрешением ~ 10 нм. Нано-рамановское изображение позволяет получить уникальное представление о структуре и химическом составе образца в нанометровом масштабе.

pdf (0.9 Mb, EN)

Зондово-усиленное рамановское рассеяние (TERS): достижение 10 нм оптического разрешения

Пример применений 100

  • Коэффициенты усиления: 100x и более
  • Латеральное разрешение в TERS: до 10 нм
  • Высокоскоростное TERS картирование
  • Основанные на коммерческих АСМ зондах (контактных, бесконтактных): множество АСМ методов, прекрасное качество изображения

pdf (2.8 Mb, EN)

Оптическая визуализация и спектроскопия c нанометровым разрешением

Пример применений 099

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (SNOM) позволяет изучать оптические свойства образца с разрешением далеко за дифракционным пределом.
Флуоресценция образца, световая эмиссия, передача, рассеяние и пр. могут отображаться с пространственным разрешением вплоть до десятков нанометров.

pdf (2.2 Mb, EN)

Прыжковая силовая микроскопия пьезоотклика: комплексное изучение биопьезоэлектриков

Пример применений 098

  • Силовая микроскопия пьезоотклика мягких, хрупких и слабо закрепленных образцов
  • Одновременное изучение морфологических, наномеханических, адгезионных и пьезоэлектрических свойств поверхности
  • Изучение температурной динамики электромеханических свойств в реальном времени

pdf (6.2 Mb, EN)

Комплексная композиционная визуализация гетерогенных материалов с применением атомно-силовой микроскопии

Пример применений 097

Композиционное исследование гетерогенных материалов с применением АСМ является одним из неоценимых преимуществ применения этого метода в науке и промышленности.
Визуализация специфических структур и зондирование локальных свойств (механических, электрических, термических, спектроскопических и т. д.) используется для формирования композиционных АСМ изображений.

pdf (6 Mb, EN)

Изучение механических и электрических свойств с применением контактного метода атомно-силовой микроскопии

Пример применений 096

Контактный метод, изобретенный 30 лет назад, по-прежнему является ценным инструментом в комбинации с другими методами.
Применение контактного метода для локальных механических исследования продемонстрировано на полимерных смесях.
Отображение электростатического силового отклика в контактном режиме помогает характеризовать электрически активные материалы.

pdf (3.3 Mb, EN)

Локальные измерения с применением колебательных резонансных АСМ методов: основы и применения

Пример применений 095

Набор АСМ методов расширен частотно-модуляционным методом и методом отображения частоты в амплитудно-модуляционном методе.
Частотно-модуляционный метод обеспечивает превосходную возможность визуализации в широком диапазоне сил и улучшает позволяет проводить исследования при низких уровнях силового взаимодействия зонд-образец.

pdf (3.8 Mb, EN)

Взаимосвязь рамановского рассеяния и атомно-силовой микроскопии при характеризации полимерных смесей

Пример применений 094

АСМ-распознавание отдельных компонентов в гетерогенных полимерных материалах обычно основывается на их специфической морфологии и различиях локальных механических и электрических свойств. В настоящее время дефицит локальной химической или спектральной информации в АСМ можно преодолеть, объединив его с конфокальным КР (рамановским) микроскопом.

pdf (2 Mb, EN)

АСМ-Раман характеризация литий-ионных батарей

Пример применений 093

Развитие современных литиевых батарей в настоящее время представляет собой быстро растущую область науки и техники. Литиевые батареи интересны как источник питания во многих портативных устройствах, таких как ноутбуки, сотовые телефоны и видеокамеры, в электромобилях, в военных и аэрокосмических приложениях.

pdf (2.2 Mb, EN)

АСМ-Раман характеризация фармацевтических таблеток

Пример применений 092

Рамановская микроскопия является широко используемым методом в фармацевтической промышленности. Он позволяет идентифицировать и быстро характеризовать химические соединения, функциональные группы, молекулярные конформеры и аутентифицировать различные лекарственные средства.

pdf (1.9 Mb, EN)

Диагностика солнечных элементов методом Кельвин-зондовой силовой микроскопии  с применением локального фотовозбуждения

Пример применений 091

Солнце - это щедрый и легкодоступный источник энергии, который в настоящее время недостаточно используется, и, возможно, станет альтернативным выбором для электрической энергетики человечества. Считается, что наиболее перспективным способом преобразования солнечной энергии является фотоэлектрический метод, используемый в солнечных батареях.

pdf (1.6 Mb, EN)

Количественные наномеханические измерения с применением прыжковой атомно-силовой микроскопии (HybriD метода)

Пример применений 090

Количественные наномеханические измерения полимерных образцов HybriD методом показали, что локальные модули упругости хорошо коррелируют с их макроскопическими значениями.
Карты упругости были успешно применены для композиционного картирования несмешивающихся полимерных смесей.

pdf (1.7 Mb, EN)

Характеризация материалов с применением комбинированного АСМ-Раман микроскопа

Пример применений 089

Всесторонняя характеризация материалов основана на исследованиях образцов с помощью дополнительных методов. Необходимость химического распознавания соединений в микроскопическом масштабе привела к разработке ИК и рамановских микроскопов.

pdf (3.3 Mb, EN)

Высокое разрешение с применением различных методов атомно-силовой микроскопии

Пример применений 088

Работа АСМ в термостабилизированном шкафу облегчает исследования с высоким разрешением и упрощает получение молекулярного разрешения.
Атомное и молекулярное разрешения были достигнуты на ряде образцов не только в контактном режиме, но и с использованием колебательных резонансного (амплитудно-модуляционного) и нерезонансного (HybriD) методов.

pdf (1.7 Mb)

Расширение возможностей атомно-силовой микроскопии с помощью прыжковой АСМ

Пример применений 087

  • Углубленная детализация изображений наноразмерных структур - одна из замечательных особенностей Прыжковой АСМ (HybriD Mode)
  • Отображение локальной адгезии и жесткости с высоким разрешением в Прыжковой АСМ расширяет возможности картирования состава гетерогенных материалов и превращает АСМ в инструмент количественного анализа локальных механических свойств
  • Сочетание прыжковой АСМ с многомодовыми резонансными методиками дает основу для всесторонней характеризации материалов на наноуровне

pdf (6,3 Mb)

Сканирующий зондовый микроскоп NEXT: Визуализация поверхностных наноструктур и морфологии материалов

Пример применений 086

  • Достижение молекулярного разрешения в амплитудно-модуляционной АСМ
  • Расширение возможностей визуализации путем управления уровнем силового воздействия
  • Метрология профилей шероховатых поверхностей

pdf (3,6 Mb, EN)