Рус
+1-480-493-0093

NTEGRA II


Легендарный АСМ для научных исследований, оснащенный всеми новейшими решениями

Легендарный АСМ для научных исследований, оснащенный всеми новейшими решениями


  • Открытая архитектура: потрясающая гибкость системы и широчайшие возможности конфигурирования под конкретную научную задачу
  • Все самые современные методы АСМ, включая самый широкий набор методов прыжковой микроскопии (HybriD Mode)
  • Автоматизация эксперимента благодаря интеллектуальному программному модулю ScanTronic
  • Возможность развития до АСМ-Раман систем, систем микроскопии и спектроскопии нанометрового пространственного разрешения в видимом, ИК и ТГц диапазоне

Основная информация

NTEGRA II - АСМ в комплекте с новейшими техническими решениями NT-MDT S.I. Данная система поддерживает полный набор АСМ-методик, включая методики HybriD ModeTM. NTEGRA II укомплектована термостатирующим шкафом для защиты от внешних шумов: акустических, температурных.

Управляющая электроника PX Ultra обеспечивает работу в высокочастотных (до 5 МГц) режимах. Эта предоставляет работу с высокочастотными методиками АСМ и с использование высокочастотных кантилеверов.

NTEGRA II имеет вспомогательную систему видеонаблюдения с разрешением до 1 мкм, которая позволяет отображать процесс сканирования в реальном времени.

Благодаря открытой архитектуре функциональность NTEGRA II, расширяется дополнительными модулями: жидкостные измерения, высокотемпературные эксперименты, ближнепольная оптическая микроскопия.

Ключевые Преимущества

ScanTronicTM. Машинное обучение и микроскопия


NTEGRA II имеет нашу новейшей разработку – программный модуль ScanTronicTM. Он позволяет полностью автоматически настраивать параметры сканирования в полуконтактной АСМ: амплитуда колебаний кантилевера, значение рабочей амплитуды колебаний, коэффициент усиления обратной связи, скорость сканирования.
ScanTronicTM создан для получения оптимальных изображений рельефа и фазового контраста поверхностей образцов практически любой морфологии и заметно снижает расход кантилеверов при рутинных измерениях. ScanTronicTM позволяет значительно ускорить получение качественных и достоверных результатов как для опытных, так и для начинающих пользователей АСМ.
Подробнее


Массив заготовок АСМ зондов

Нитроцеллюлозная мембрана

ДНК-оригами на слюде

Остроконечная структура Al2O3 полученная с использованием ScanTronic и в ручном режиме

 

Контроллер PX Ultra


Latest generation digital controller.

Цифровой контроллер последнего поколения.
Достижение новых исследовательских целей и совершения передовых научных открытий

  • 8 независимых каналов обратной связи
  • 5 синхронных детекторов. Работа в высокоразрешающих однопроходные методах (KPFM, SCFM, EFM, MFM и др.)
  • Полоса пропускания до 5 МГц. Работа на высоких гармониках колебаний кантилевера
  • 8000x8000 точек на скан. Оперативное масштабирование и быстрое сравнение АСМ-сканов
  • Деликатность. Алгоритм мягкого подвода к образцу
Подробнее


Multifrequency Electrostatic force studies

 

 

Контроллер HD 2.0. HybriD ModeTM



Контроллер HD 2.0 для прыжковой АСМ (HybriD ModeTM, US Pat 9,110,092) обеспечивает получение обширной информации о поверхностных свойствах образца с нанометровым пространственным разрешением, включая данные о ее рельефе, количественных наномеханических свойствах, электрических, магнитных и других характеристиках образца.

  • 18 независимых каналов обратной связи
  • QNM. Быстрые количественные наномеханические измерения
  • PFM-HD. Первая неразрушающая АСМ-методика измерения пьезоотклика
  • Оконные измерения. Подача электрического напряжения на образец в заданном интервале взаимодействия и измерение сигналов АСМ внутри каждого цикла
  • Программируемый интерфейс LabView
Подробнее


Принцип работы Прыжковой СМП: a) идеализированная временная кривая изгиба в течение колебательного цикла, b) взаимодействие зонд-образец во “временном окне”, c) схема измерений

 

Применения

  • Биология и Биотехнология
    Протеины, ДНК, вирусы, ткани
  • Материаловедение
    Морфология поверхности, локальные пьезоэлектрические свойства, локальные адгезионные свойства, локальные трибологические свойства
  • Магнитные материалы
    Визуализация структуры магнитных доменов, наблюдение процессов перемагничивания при разных температурах
  • Полупроводники, электрические измерения
    Морфология п/п структур, локальный поверхностный потенциал и емкостные измерения, отображение электрической доменной структуры
  • Полимеры и тонкие органические пленки
    Сферулиты и дендриты, полимерные монокристаллы, полимерные наночастицы, тонкие органические пленки, ЛБ-пленки
  • Запоминающие устройства и среды
    CD, DVD диски, терабитные запоминающие среды с термомеханической, электрической и другими типами записи
  • Наноматериалы
    Нанопорошки, нанокомпозиты, нанопористые материалы
  • Наноструктуры
    Фулерены, нанотрубки, нанонити, нанокапсулы
  • Наноэлектроника
    Квантовые точки, нанопроволоки, квантовые структуры
  • Нанообработка
    АСМ литография - силовая и токовая (Локальное анодное окисление), СТМ литография
  • Наноманипуляции
    Контактные силовые

PM-KPFM карта, наложенная на рельеф поверхности структур самосборки фтороалканов F14H20 на Si. Размер скана 5x5 мкм

Наночешуйки перовскита (CsPbBr3), нанесенные методом центрифугирования на пленку MoS2. Размер скана 6x6x0,4 мкм

Шарики из пенополистирола, покрытые золотой пленкой. АСМ изображение получено с применением c программного модуля ScanTronicTM. Размер скана 2,5x2,5 мкм

Карта ферроэлектрических доменов (амплитудный PFM сигнал) в DyMnO3. Размер скана 6x6 мкм

Карта адгезии поверхности битума, показаны области с высоким (желтый) и низким (фиолетовый) уровнями адгезии. Размер скана 10x10 мкм

СТМ изображение поверхности ВОПГ, полученное при скорости 0,5 Гц в Термостатирующем шкафу. Размер скана 2,5x2,5 нм

DualScanTM изображение 3 мкм калибровочной решетки. Размер скана 200x200 мкм

Поверхностный потенциал полимерной смеси sPS-PVDF. Получено с применением однопроходной PM-KPFM. Размер скана 9х9 мкм

 

Спецификация

Базовый набор методик

Контактный метод: Рельеф, Латеральная сила, Силовая модуляция, Ток растекания, Силовая микроскопия пьезоотклика, Контактная резонансная микроскопия
Амплитудно-модуляционный метод: Рельеф, Отображение фазы, Одно- и двухпроходная Кельвин-зондовая силовая микроскопия с фазовой и амплитудной модуляцией, Двухпроходная и Покадровая Магнитно-силовая микроскопия, Одно- и двухпроходная Электростатическая силовая микроскопия, Сканирующая ёмкостная силовая микроскопия (отображение dC/dZ и dC/dV)
HybriD ModeTM: Рельеф, Модуль упругости от 104 до 1011 Па, Работа адгезии, Объемная силовая спектроскопия, Ток, Пьезоотклик, Вязкоупругость, Кельвин-зондовая силовая микроскопия с фазовой и амплитудной модуляцией, Магнитно-силовая микроскопия, Электростатическая силовая микроскопия, Сканирующая ёмкостная силовая микроскопия (отображение dC/dZ и dC/dV)
Нанолитография: Вольтовая, Токовая, Силовая (Векторные и растровые)
Спектроскопия: Сила-, Амплитуда-, Фаза-, Частота-, Ток-расстояние, I(V), Пьезоимпульсная, Пользовательские методики

Тип сканирования Сканирование образцом Сканирование зондом DualScanTM
Размер образца До 40 мм в диаметре, до 15 мм в высоту До 100 мм в диаметре, до 15 мм в высоту До 40 мм в диаметре, до 15 мм в высоту
Вес образца До 100 г До 300 г До 100 г
XY позиционирование образца 5x5 мм, 5 мкм
Разрешение позиционирования разрешение - 5 мкм; минимальное перемещение - 2 мкм
Поле сканирования 100x100x10 мкм 100x100x10 мкм 200x200x20 мкм
Нелинейность, XY
(с датчиками обратной связи)
≤ 0.1% ≤ 0.15% ≤ 0.15%
Уровень шума, Z
(СКВ в полосе 1000 Гц)
0.04 нм (типично), 0.06 нм
Уровень шума, XY
(СКВ в полосе 200 Гц)
0.2 нм (типично), 0.3 нм (XY 100 мкм) 0.06 нм (типично), 0.07 нм 0.06 нм (типично), 0.07 нм
Ошибка измерения линейных размеров ±0.5% ±1.2% ±1.2%
Система видео-наблюдения Оптическое разрешение 1 мкм 3 мкм 3 мкм
Поле зрения 4.5-0.4 мм 2.0-0.4 mm 2.0-0.4 mm
Непрерывный зум возможно
Виброизоляция Активная 0.7-1000 Гц
Пассивная до 0.5 Гц

Свяжитесь с нами

Заполните форму для запроса дополнительной информации

Узнать больше