Микроскопия комбинационного рассеяния со сверхвысоким пространственным разрешением. a – схематическое описание метода TERS (tip-enhanced Raman scattering). b – когда зонд находится вблизи от пучка углеродных нанотрубок сигнал комбинационного рассеяния от них увеличивается на порядки. c – изображение пучка углеродных нанотрубок, полученное с помощью КР микроскопии (в конфокальном режиме). d- изображение того же пучка полученное с применением TERS. Эффект локального усиления поля позволяет улучшить пространственное разрешение КР микроскопии, по крайней мере, в 4 раза.
Данные получены в лаборатории Prof. Dr. G. de With, TUE, the Netherlands коллективом авторов: Dr. S.Kharintsev, Dr. G. Hoffmann, Dr. J. Loos, а также Дорожкиным П., НТ-МДТ.
