+1-480-493-0093
Leading the Way in Nanoscale Analysis
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Галерея сканов
Полупроводники
Etched Si3N4
Etched Si3N4
Etched Si3N4. ScanT
Device:
NTEGRA Aura
Sample Courtesy:
Dr. Yuri Bobrov
Image Courtesy:
Dr. Yuri Bobrov
Etched Si3N4
size:
2x2 um
SPM principle:
Amplitude modulation AFM
Black Si by ScanT
V2O5 nanostructures
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности