СТМ методики

Генрих Рорер и Герд Бинниг, ученые из исследовательской лаборатории IBM в Цюрихе, Швейцария были награждены в 1986 г. Нобелевской премией по физике за их работу по сканирующей туннельной микроскопии. Бинниг и Рорер были отмечены за разработку мощных методов исследований на основе Сканирующей Туннельной Микроскопии. Они разделили премию с немецким ученым Эрнстом Руска, конструктором первого Электронного Микроскопа.

СТМ способен формировать изображения отдельных атомов на поверхностях металлов, полупроводников и других проводящих образцов путем сканирования образца остроконечной иглой на высоте порядка нескольких атомных диаметров, так что между острием и образцом протекает туннельный ток.

Основными методами СТМ являются методы Постоянного Тока и Постоянной Высоты для получения данных о рельефе, дополняемые Методиками Спектроскопических измерений для получения распределений «работы выхода» («высоты барьера») и «локальной плотности состояний» (ЛПС), I(z) и I(V) кривые отображают химические и электронные свойства поверхности.


Необходимо отметить, однако, что еще в 1966 г. Рассел Янг высказал предположение о возможности получения рельефа поверхности путем использования тока между поверхностью и металлической остроконечной иглой. В 1971 г. Он опубликовал статью об устройстве, названном Topographiner , которое содержало все основные узлы Сканирующего Туннельного Микроскопа.

Ссылки

  1. US Pat. 4343993. IBM. J. Res. Dev. v.30, N4, 355 (1986).
  2. Phys. Rev. Lett. V. 27, N 14, 1971, P. 922-924. Rev. Sc. Instr. V. 43, N 7, 1972, P. 999-1011.
  3. Rev. Sc. Instr. V. 43, N 7,1972, P. 999-1011.
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.