Атомно-силовая микроскопия для исследования функциональных и смарт-материалов

NT-MDT Spectrum Instruments представляет запись вебинара, проведенного Ведущим специалистом по АСМ применениям, к.т.н. Леесментом Станиславом Игоревичем:

«Атомно-силовая микроскопия для исследования функциональных и смарт-материалов»

Вебинар прошел 17 апреля 2019.

В рамках вебинара рассмотрены разнообразные приложения методов АСМ к исследованию морфологических, электрических, пьезомеханических и магнитных свойств смарт- и функциональных материалов.

Проведен обзор публикаций, сделанных в этой области ведущими научными группами за последние несколько лет.

Атомно-силовая микроскопия для исследования функциональных и смарт-материалов