Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия – новые результаты и тренды

NT-MDT Spectrum Instruments представляет запись вебинара, проведенного Ведущим специалистом по оптическим применениям к.ф.-м.н. Артемом Шелаевым:
“Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия – новые результаты и тренды”.

Вебинар прошел 20 ноября 2019.

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) – методика для исследования оптических свойств наноструктур с разрешением выше дифракционного предела. Данный метод активно используется в нанофотонике, лазерной технике, оптических микроустройствах и материаловедении.

В ходе вебинара были освещены новые результаты, полученных при помощи различных видов СБОМ. Приведены примеры использования волоконной, апертурной и безапертурной схем включения.

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия – новые результаты и тренды (15 Mb)