Семинар в НИЯУ «МИФИ» по Сканирующей ионно-проводящей микроскопии

20 февраля 2020 года в Национальном исследовательском ядерном университете «МИФИ» состоялся семинар, организованный по инициативе Льва Николаевича Патрикеева и посвященный Сканирующей ионно-проводящей микроскопии (СМИП).

С докладом выступил почетный президент НТ-МДТ Спектрум Инструментс Быков Виктор Александрович. Была рассмотрена перспектива использования методов СМИП для ранней диагностики онкологических заболеваний и исследований морфологии и механических свойств клеток.

Также обсуждались возможности нашего нового продукта ИНТЕГРА Марлин, основанного на СМИП. ИНТЕГРА Марлин создан в сотрудничестве с профессором Имперского колледжа Лондона (Великобритания) Юрием Евгеньевичем Корчевым при поддержке Фонда содействия инновациям.