+1-480-493-0093
Leading the Way in Nanoscale Analysis
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Галерея сканов
Полупроводники
Etched Ge(Si) islands
Etched Ge(Si) islands
Ge(Si) островки 30 монослоев, выращенные методом МПЭ при 750°С на подложке Si(001) и подвергнутые травлению 6 мин в HF+H2O2+CH3COOH
Device:
NTEGRA Aura
Image Courtesy:
Dr. Mikhail Shaleev, IPM RAS
Etched Ge(Si) islands
size:
3x3 um
SPM principle:
Amplitude modulation AFM
Si buffer on Si substrate
Ge Defects
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности