Рус
Eng
+1-480-493-0093
Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия
Продукция
Применения
Ресурсы
О компании
Контакты
Магазин зондов
Онлайн-сервис
Главная
Ресурсы
Галерея сканов
Галерея сканов
Все группы
Наноарт
Наночастицы и наноструктуры
Полупроводники
Графен и углеродные материалы
Материаловедение
Полимеры и Тонкие Органические Пленки
Предельное разрешение
Магнитные материалы
Биология и Биотехнология
Наноплазмоника и Нанофотоника
Квантовые точки
Конфокальная микроскопия
Полиоксибутират
Пластины J-агрегатов
Гетероструктуры SiGe/Si
Поликапролактон
Жидкие кристаллы
Полиметилметакрилат
Латекс
Смеси
3D Нановолокна
Mолекулярные цепочки
Backscattering enhancement effect of surface plasmons
Оптические решетки
Плазмоны на поверхности серебра
Квантовые точки
СБОМ литография
SNOM изображение фокуса микрообъектива
Пленка феррита-граната
Латексные шарики
Сверхрешетки
Приборы и элементы
Интегральные схемы
Сферолиты и дендриты
Ток растекания на полимерной подложке
Поврежденная пленка Ленгмюра - Блоджета
Поверхностный потенциал кристаллов
Поверхностный потенциал двух-компонентной ЛБ-пленки
Сферолиты и дендриты
Полидиметилсилоксан
Полиоксибутират-со-полиоксивалерат
Нити коллагена I типа
Изотактический пропилен
Смеси
Полупроводниковые полимеры
Пентаценовая пленка
Фоточувствительные полимеры
Структура Si/SiO2
Разрешение в плоскости XY
Разрешение по Z
Монокристалл ZnTe
АСМ анодно окислительная литография
АСМ динамическая литография
СТМ литография
Микротом
Монокристаллы полимеров
Полиэтилен
Тонкие полимерные пленки
Полипропилен
Блок-сополимеры
Оксиды полиэтилена
Полидиэтилсилоксан
Полифениленвинилен
Наночастицы
Самоорганизованная структура
Спиральная структура
Halobacterium Salinarum
Лазерная Микрообработка
Микротрубка
Поликремниевый тонкопленочный транзистор
Строение Si 7x7
Углеродные наноструктуры
Поверхности металлов и оксидов металлов
Пористый GaP
CD and DVD disks
Нанотрубки
Вирусы
Комплексные измерения
Любой метод
HybriD Mode
Контактная АСМ
Полуконтактный Метод
АСМ спектроскопия
АСМ литография
Латерально-силовая микроскопия
Поперечно-силовая микроскопия
3D АСМ
Модуляционно-силовая микроскопия
АСАМ
Прыжковая АСМ
Наносклерометрия
Отображение сопротивления растекания
Контактная сканирующая емкостная микроскопия
Силовая микроскопия пьезоотклика
SS PFM
ЭСМ
Кельвин-зондовая силовая микроскопия
MFM
СТМ
СТМ спектроскопия
СТМ литография
Сканирующая тепловая микроскопия
ЭХ-АСМ
ЭХ-СТМ
СБОМ
Конфокальная флуоресцентная микроскопия
Конфокальная Рамановская микроскопия
Конфокальная лазерная микроскопия
Зондово-усиленная флуоресцентная микроскопия
Широкопольная оптическая микроскопия
Поиск
Показывать на странице
8
20
60
100
Структура Si/SiO2
Полистиреновые шарики
Протонный след
Рамановский спектр кремния
Впадина на Поверхности Кремния
Человеческая клетка
Монокристаллы уротропина + H2PtCl6
Дно ВИМС кратера на кремнии
«
1
2
3
4
5
»
Остались вопросы? Позвоните нам по телефону: +7-499-110-2050
или заполните форму обратной связи, и мы ответим на все интересующие Вас вопросы.
Спросить эксперта
Отправить запрос
Для технической поддержки используйте
Онлайн сервис
* - Требуется заполнить.
Отправить
Принять политику конфиденциальности
