Новости
+1-480-493-0093

Новости

Компания НТ-МДТ Спектрум Инструментс ознаменовала начало 2019 года выводом на рынок интеллектуального программного модуля – ScanTronic™.
10.02.2019
Компания НТ-МДТ Спектрум Инструментс ознаменовала начало 2019 года выводом на рынок интеллектуального программного модуля – ScanTronic™.
06.02.2019
НТ-МДТ Спектрум Инструментс была представлена на осенней конференции MRS Fall Meeting & Events 2018. Конференция была организована Обществом материаловедения с целью проведения международного форума для представления научных результатов в области исследования материалов региональными и международными исследователями и учеными.
10.12.2018
С 6 по 10 августа в г. Суздале будет проходить 13я международная конференция "HOLE BURNING, SINGLE MOLECULE, AND RELATED SPECTROSCOPIES: SCIENCE AND APPLICATIONS". С 26 по 29 августа будет проходить конференция SPM-2018 на базе Уральского Федерального Университета, г. Екатеринбург.
01.08.2018
НТ-МДТ Спектрум Инструментс приняла активное участие в весенних выставках по Сканирующей Зондовой Микроскопии и Материаловедению
07.07.2018
В рамках проекта ФИОП РОСНАНО организован конкурс "Наноразборка" среди научно-позновательных каналов на YouTube.
25.05.2018
Мы будем очень рады пообщаться с Вами на данных мероприятиях, выслушать вопросы и предложить варианты решения Ваших научных задач.
23.05.2018
В Новосибирском Академгородке 25 апреля 2018 года с 11-00 до 17-00 на базе Института физики полупроводников имени А.В. Ржанова СО РАН (Новосибирск, пр. академика Лаврентьева, 13) при поддержке Нанотехнологического Общества России, компании NT-MDT Spectrum Instruments и Сибирского Отделения РАН состоится в формате круглого стола семинар по теме «Научное приборостроение для нанотехнологий. Современное состояние. Возможности развития.»
11.04.2018
На выставке MRS среди на стенде NT-MDT SI среди прочего была представлена новая методика проведения измерений электромеханических характеристик наноструктур с применением силовой микроскопии пьезоотклика (СМП).
29.12.2017
Компания NT-MDT Spectrum Instruments с радостью приняла участие в масштабной выставке MRS Fall Meeting 2017, проходившей в с 26 Ноября по 1 Декабря в Бостоне, США
12.12.2017
Компания НТ-МДТ Спектрум Инструментс приглашает вас на Вернисаж научного искусства «Очарование нано-мира» (Ilascino del NanoMondo), где будут экспонироваться 50 избранных произведений искусства, полученных с помощью АСМ изображений, собранных у ведущих научных групп по всему миру.
25.11.2017
2-й Международный форум по электронно-лучевым технологиям для микроэлектроники - "Техноюнити - ЭЛТМ 2017" был проведен в Зеленограде с 9 по 13 октября 2017 года при поддержке РФФИ, ФГУБН ИПТМ РАН, АО "НИИМЭ" и Казенного предприятия "Корпорация развития Зеленограда"
24.10.2017
При поддержке РФФИ, ФГУБН ИПТМ РАН, АО "НИИМЭ" и Казенного предприятия "Корпорация развития Зеленограда" с 9 по 13 октября 2017 года в Зеленограде был проведен 2-й Международный форум по электронно-лучевым технологиям для микроэлектроники - "Техноюнити - ЭЛТМ 2017". На форуме с докладом выступил почетный президент группы компаний НТ-МДТ СИ Быков В.А.
24.10.2017
Примите участие в конкурсе, поделитесь своими результатами с мировым СЗМ-сообществом и получите ценные призы!
19.10.2017
NT-MDT Spectrum Instruments were proud to participate at E-MRS Fall Meeting 2017 Warsaw, Poland September 18th – 21st
17.10.2017
NT-MDT SI announces the termination of its employment agreement with Mr. Dmitry Kozodaev, our European regional sales manager, effective from April 1st 2017
05.10.2017
27 сентября 2017 года Виктор Александрович Быков выступит в в Санкт-Петербургском политехническом университете Петра Великого с лекцией “Modern possibilities of Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy for investigation of physical properties and spectral features of surface structures”
25.09.2017
7 сентября 2017 года Быков Виктор Александрович выступит во Владимирском государственном университете с лекцией на тему «Сканирующая зондовая микроскопия и спектроскопия. Состояние, тенденции развития."
04.09.2017

Применения

Подробнее

Функции

Подробнее

Галерея сканов

Подробнее