Основы работы сканирующего зондового микроскопа
- 1. Сканирующий туннельный микроскоп
- 2. Принцип работы АСМ
- 2.1 АСМ кантилеверы
- 2.2 Силовое взаимодействие зонда с поверхностью
- 2.3 Линейные колебания кантилевера
- 2.4 Нелинейные колебания кантилевера
- 2.5 Предельное разрешение в контактном режиме
- 2.6 Латеральные силы взаимодействия зонда и образца
- 2.7 Количественная интерпретация результатов магнитно-силовой микроскопии (МСМ)
- 2.7.1 Общая идея МСМ
- 2.7.2 Алгоритмы восстановления физических параметров образца по результатам МСМ
- 2.7.3 Взаимодействия магнитожёсткого зонда с магнитным полем исследуемого образца (общий случай)
- 2.7.4 Приближение эффективного дипольного магнитного момента
- 2.7.5 Приближение эффективного монопольного магнитного заряда
- 2.7.6 Взаимодействие магнитомягкого зонда с магнитным полем исследуемого образца
- 2.7.7 Взаимодействие парамагнитного зонда с магнитным полем исследуемого образца
- 2.7.8 Методы экспериментального определения параметров магнитного кантилевера
- 2.7.9 Магнитное поле прямоугольного провода с током
- 2.7.10 Магнитное поле кольца с током
- 2.7.11 Магнитное поле цилиндрических доменов
- 2.7.12 Магнитное поле периодических параллельных доменов
- Приложения
- 3. Сканирующая оптическая микроскопия